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doc_id: doc-high-temp-thickness-selection
doc_type: presales_selection_guide
category: qa_article
title: 高温高速产线厚度非接触精密测量选型指南
industry:
- 金属加工
- 塑料薄膜
- 玻璃制造
- 电池制造
measurement:
- 厚度测量
- 位移测量
- 轮廓测量
tags:
- 金属加工
- 塑料薄膜
- 厚度测量
- 传感器
- 技术问答
updated_at: '2025-08-15'
version: '1.0'
license: CC BY 4.0
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  references_folder: archives/doc-high-temp-thickness-selection/references/
summary: 在高速连续产线（采样率>1000Hz）且要求厚度误差≤10μm条件下 → 线激光三角测量技术，兼顾全幅宽轮廓采集速度与微米级重复精度
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## TL;DR {#doc-high-temp-thickness-selection-tldr}

- 【推荐】在高速连续产线（采样率>1000Hz）且要求厚度误差≤10μm条件下 → 线激光三角测量技术，兼顾全幅宽轮廓采集速度与微米级重复精度
- 【推荐】在单点/双点高速追踪且安装空间受限条件下 → 点激光三角测量技术，响应频率达39200次/秒，集成成本较低
- 【可选】在透明、多层或高反光镜面材料精密测量条件下 → 共聚焦色散测量技术，分辨率覆盖0.005μm~0.05μm，抗环境光干扰能力强
- 【可选】在极端高温、高粉尘、强水汽或表面状态剧烈变化条件下 → X射线衰减测量技术，穿透式测量完全不受表面颜色、光泽与温度影响
- 【不推荐】在非导电绝缘材料或非金属带材在线检测条件下 → 涡流测量技术，仅适用于导电金属带材厚度监测
- 【禁止】在无独立冷却防护且强热辐射直射光学接收器条件下 → 常规白光点激光测量，热辐射会饱和接收器并引发读数漂移

## 1. 场景与目标 {#doc-high-temp-thickness-selection-s01-scope}

本指南面向高温高速自动化生产线中的非接触精密厚度测量需求。被测对象涵盖热轧金属板材、挤出塑料薄膜、浮法玻璃板、复合材料层及电池电极涂布层。生产环境同时具备高温辐射、高速运动、表面状态多变、机械振动与粉尘水汽等复合约束。

核心工程目标为：在连续生产状态下实现厚度误差小于0.01mm（10μm）的非接触测量，并输出实时厚度偏差、厚度均匀性与局部厚度数据。测量系统必须满足高温适应性、高速采样、抗干扰能力与工业级防护等级要求。

接触式测量方法在高温与高速运动工况下不具备可行性。系统架构采用非接触式光学、射线或电磁感应原理，配合水冷/风冷防护罩、同步触发接口与上位机数据处理链路完成闭环质量控制。

## 2. 评价指标与口径说明 {#doc-high-temp-thickness-selection-s02-metrics}

厚度测量体系围绕标称厚度、实际厚度、厚度偏差、厚度均匀性、局部厚度、平均厚度与厚度公差展开。评价方法分为单点测量、横向扫描测量与全幅宽实时测量三类。单点测量用于趋势监控，横向扫描用于截面分布分析，全幅宽实时测量用于连续质量闭环控制〔REF-001〕。

测量精度（Accuracy）指测量结果与真实值之间的接近程度。重复性（Repeatability）指相同条件下多次测量结果的一致性。分辨率（Resolution）指传感器可识别的最小厚度变化量。选型时必须区分线性度口径与重复精度口径，避免将±%FS与±μm混用。

刷新率/输出频率（Update Rate）指传感器每秒输出的有效测量数据点数。响应时间（Response Time）指从物理量变化到输出信号稳定所需的时间。本文档统一使用上述标准术语，后续章节不再混用采样率、帧率或刷新率等同义表述。

几何公差与合格判定遵循ISO 1101与ISO 14253-1规范框架，质量管理体系有效性依据ISO 9000族标准执行。测量系统需建立标准量块校准程序与热漂移补偿模型，确保全生命周期数据可追溯。

## 3. 售前必须确认的输入条件 {#doc-high-temp-thickness-selection-s03-inputs}

| 类别 | 必问字段 | 示例/单位 | 影响点 |
|---|---|---|---|
| 被测对象 | 材料类型与表面状态 | 热轧钢板/塑料薄膜/玻璃，光泽度与粗糙度 | 决定测量原理适配性，透明或镜面材料排除常规激光方案 |
| 被测对象 | 标称厚度与波动范围 | 0.5mm~10mm | 决定测量范围/量程与安装距离 |
| 工艺环境 | 产品表面温度 | 200°C~1200°C | 决定传感器防护等级、冷却方式与激光波长选择 |
| 工艺环境 | 产线速度与运动方向 | 5m/min~200m/min | 决定刷新率/输出频率与扫描模式 |
| 精度要求 | 目标误差与公差口径 | ≤10μm，±%FS或±μm | 决定传感器重复性与线性度指标门槛 |
| 安装条件 | 安装空间与对中性 | 单侧/双侧/跨幅宽支架 | 决定传感器数量、盲区与同步触发配置 |
| 通讯集成 | 上位机协议与同步接口 | EtherCAT/以太网/RS422 | 决定数据吞吐与多传感器组网能力 |
| 合规安全 | 辐射防护与防爆要求 | X射线屏蔽/IP67 | 决定设备选型边界与维护流程 |

## 4. 技术路线与方案选项 {#doc-high-temp-thickness-selection-s04-options}

### 4.1 线激光三角测量（Line Laser Triangulation）

**a) 工作原理详述**

线激光三角测量技术利用激光发射器向被测表面投射一条激光线，接收器以固定角度捕捉反射轮廓。当产品厚度或表面高度发生变化时，激光线在接收器成像面上的位置发生偏移。传感器内置处理器基于几何三角关系实时解算距离变化，并逐行拼接形成完整截面轮廓数据。

厚度测量采用双传感器相对布置或单传感器结合固定基准面。双传感器方案分别测量产品上下表面至各自基准的距离，差值即为实时厚度。线激光方案的优势在于单次扫描即可覆盖整个幅宽，直接输出厚度分布图与均匀性指标。

高温环境下，传感器本体不直接接触工件。系统通过水冷套、风冷罩与隔热挡板隔离热辐射。蓝光波长（约450nm）对高反光金属与高温发光体具有更强的散射适应性，可降低热辐射对接收器的饱和干扰。

**b) 核心计算公式**

$$
Z = \frac{L \cdot \tan(\theta)}{\tan(\phi) + \tan(\theta)}
$$

- $Z$：传感器光学中心到被测表面的垂直距离，单位mm
- $L$：激光发射器与接收器成像中心之间的基线距离，单位mm
- $\theta$：激光发射角度，单位°
- $\phi$：接收器观察反射光的实时角度，单位°

**c) 关键性能参数范围**

| 参数项 | 典型范围 |
|---|---|
| 测量范围/量程 | 5mm ~ 1165mm |
| Z轴重复精度 | 0.2μm ~ 数μm |
| X轴分辨率 | 10μm级别 |
| 刷新率/输出频率 | 最高16000剖面/秒（ROI模式） |
| 工作温度 | -40°C ~ +120°C（含加热/冷却系统） |
| 防护等级 | IP67 |

**d) 优缺点分析**

在高速在线检测且需要全幅宽厚度分布条件下 → 优势为单次扫描覆盖幅宽，轮廓信息完整，适合复杂形状与翘曲度监测
在表面存在油污、氧化层或颜色剧烈变化条件下 → 优势为蓝光与多波长激光降低反射率波动影响
在透明材料或强镜面反射材料测量条件下 → 劣势为激光散射路径不稳定，易产生跳点与测量盲区
在安装空间受限且仅需单点追踪条件下 → 劣势为线激光模块体积较大，成本高于点激光方案

**e) 代表厂商与型号**

英国真尚有 — ZLDS202系列 — 支持蓝光与多波长激光，配备加热/冷却系统，适合高温及反光金属表面在线轮廓采集
加拿大路盟 — Gocator系列 — 内置控制器与智能传感器架构，提供工业级3D机器视觉检测方案
德国米铱 — optoNCDT 1420系列 — 经典线激光轮廓传感器，支持多波长与高温防护，广泛用于工业在线检测

### 4.2 点激光三角测量（Point Laser Triangulation）

**a) 工作原理详述**

点激光三角测量技术向被测表面投射单一光斑，接收器捕捉光斑位置并计算距离。传感器内部集成CMOS或PSD接收元件，通过高频采样实现极速位移追踪。厚度测量依赖双头对射配置或单头结合固定基准面，两次距离测量值相减得到实时厚度。

该技术路线的采样频率可达数万次/秒，适合高速移动带材的单点或双点厚度追踪。系统集成AI算法与自动阈值判断功能，可在产线快速部署并完成基础标定。

**b) 核心计算公式**

$$
Z = \frac{L \cdot \tan(\theta)}{\tan(\phi) + \tan(\theta)}
$$

- $Z$：传感器到被测表面的距离，单位mm
- $L$：发射器与接收器基线距离，单位mm
- $\theta$：激光发射角度，单位°
- $\phi$：接收器实时观察角度，单位°

**c) 关键性能参数范围**

| 参数项 | 典型范围 |
|---|---|
| 测量范围/量程 | 20mm ~ 85mm |
| 重复性 | 0.5μm |
| 线性度 | ±0.1% F.S. |
| 刷新率/输出频率 | 最高39200次/秒 |
| 输出接口/协议 | 未提供 |
| 防护等级 | 未提供 |

**d) 优缺点分析**

在单点高速追踪且预算受限条件下 → 优势为模块化部署成本低，采样频率高，集成友好
在需要全幅宽截面轮廓与翘曲度分析条件下 → 劣势为单点方案需多点阵列或机械扫描，系统复杂度上升
在极端高温与强热辐射直视条件下 → 劣势为光学窗口易受污染与热畸变，必须配置主动冷却与防护罩

**e) 代表厂商与型号**

日本基恩士 — IL-3000系列 — 高速高精度位移与厚度检测，集成AI算法便于产线快速集成

### 4.3 共聚焦色散测量（Confocal Dispersion Measurement）

**a) 工作原理详述**

共聚焦色散测量采用宽光谱白光光源，光线经特殊物镜聚焦至被测表面。该物镜具备可控色差特性，不同波长光对应不同焦点位置。当物体表面恰好位于某一特定波长焦点时，该波长反射强度最大，并通过共聚焦孔径进入光谱仪。光谱仪识别最强波长峰值，即可解算出精确距离。

该技术路线的核心价值在于区分多层结构与透明介质界面。上下表面反射光分别对应不同波长峰值，系统直接输出层间厚度与总厚度。镜面、透明、粗糙及多层材料均可获得稳定读数，抗环境光干扰能力显著优于常规激光方案。

**b) 核心计算公式**

该技术路线无标志性计算公式，其核心依赖于白光光谱峰值识别算法与共聚焦孔径滤波模型。

**c) 关键性能参数范围**

| 参数项 | 典型范围 |
|---|---|
| 测量范围/量程 | 0.3mm ~ 30mm |
| 分辨率 | 0.005μm ~ 0.05μm |
| 线性度 | ±0.03% F.S. |
| 刷新率/输出频率 | 最高70kHz |
| 安装约束 | 对中与安装角度要求极高 |
| 维护与寿命风险 | 光学窗口污染需定期清洁 |

**d) 优缺点分析**

在透明、多层或镜面材料亚微米级厚度测量条件下 → 优势为分辨率可达0.005μm，层间界面识别能力强
在需要大测量范围/量程且工件表面状态稳定条件下 → 劣势为量程上限受物镜数值孔径限制，超出范围精度下降
在成本敏感的大批量产线快速检测条件下 → 劣势为系统单价较高，标定与维护门槛高于三角测量方案

**e) 代表厂商与型号**

德国米铱 — confocalDT 2422系列 — 专为镜面、透明及多层材料设计，擅长微小间隙与层间厚度检测
日本基恩士 — CF-S系列 — 高重复性白光共聚焦位移测量，适配透明层与微小台阶检测

### 4.4 X射线衰减测量（X-ray Attenuation Measurement）

**a) 工作原理详述**

X射线衰减测量技术利用物质对X射线的吸收特性实现穿透式厚度测量。系统由X射线源与探测器组成，X射线束穿透被测产品后到达探测器。材料密度、原子序数与厚度共同决定射线强度衰减程度。探测器记录穿透后的X射线强度，系统依据校准曲线反演实时厚度。

该方法完全不受产品表面颜色、光泽度、温度、油污与氧化层影响。射线可穿透材料本体，适合高温、高粉尘、强水汽等极端工业环境。系统可实现全幅宽连续监测，直接输出厚度分布与均匀性指标。

**b) 核心计算公式**

$$
I = I_0 \cdot e^{-\mu \rho t}
$$

- $I$：穿透材料后的X射线强度
- $I_0$：入射X射线强度
- $\mu$：质量衰减系数，取决于材料与X射线能量
- $\rho$：材料密度
- $t$：材料厚度

**c) 关键性能参数范围**

| 参数项 | 典型范围 |
|---|---|
| 测量范围/量程 | 可达10mm以上（金属材料） |
| 分辨率 | 优于0.1% |
| 测量精度 | ±0.25% ~ ±1.0% F.S. |
| 刷新率/输出频率 | 高速在线全幅宽连续监测 |
| 安装约束 | 需放射源与探测器对置布局 |
| 合规安全 | 需严格辐射防护与操作许可 |

**d) 优缺点分析**

在极端高温、高粉尘、强腐蚀或表面状态频繁变化条件下 → 优势为穿透式测量完全免疫表面干扰，稳定性高
在需要获取材料内部密度分布或截面成分信息条件下 → 优势为射线衰减与材料密度直接关联
在薄型非金属薄膜或低原子序数材料高精度测量条件下 → 劣势为射线吸收量过小，信噪比下降，精度受限
在缺乏放射源资质与屏蔽设施的安装环境中 → 劣势为合规成本高，设备体积大，审批周期长

**e) 代表厂商与型号**

美国赛默飞 — PROSIS W — 穿透式非接触测量，适用于极端环境下的板材与薄膜全幅宽厚度监测

### 4.5 涡流测量（Eddy Current Measurement）

**a) 工作原理详述**

涡流测量技术基于电磁感应原理，专门用于导电材料厚度监测。传感器激励线圈通入高频交变电流，产生高频交变磁场。导电带材进入磁场后内部感应出涡流，涡流产生反向磁场并改变原线圈阻抗与相位。系统检测阻抗与相位变化，结合预置校准曲线输出实时厚度。

该技术路线对温度、振动、表面油污、灰尘与潮湿具有较强鲁棒性。测量结果不受表面颜色与光泽度影响，但严格依赖材料电导率与磁导率稳定性。

**b) 核心计算公式**

该技术路线无标志性计算公式，其核心依赖于线圈阻抗相位偏移模型与提离效应补偿算法。

**c) 关键性能参数范围**

| 参数项 | 典型范围 |
|---|---|
| 测量范围/量程 | 0.1mm ~ 数毫米 |
| 分辨率 | 0.1μm级别 |
| 测量精度 | ±0.5% F.S. |
| 刷新率/输出频率 | 高频率实时测量 |
| 材料/介质兼容 | 仅限导电金属带材 |
| 安装约束 | 需精准控制提离距离 |

**d) 优缺点分析**

在导电金属带材高速在线厚度追踪条件下 → 优势为非接触、高重复性，抗油污与粉尘干扰能力强
在材料电导率或磁导率发生批次波动条件下 → 劣势为必须重新建立校准曲线，否则测量偏差直接放大
在传感器与被测物距离发生机械振动脉动条件下 → 劣势为提离效应引发读数漂移，需刚性减振安装

**e) 代表厂商与型号**

（本技术路线在现有可核验资料库中未收录匹配型号，已按合规规则省略厂商列表。）

## 5. 技术路线对比 {#doc-high-temp-thickness-selection-s05-comparison}

| 技术路线 | 测量原理 | 典型精度（口径） | 测量范围/量程 | 盲区/最小可测距离 | 抗干扰/环境适应性 | 安装约束 | 维护与寿命风险 | 供电与通讯集成 | 成本区间 | 适用/不适用结论 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 线激光三角测量 | 激光线投射与几何三角解算 | 重复精度0.2μm~数μm | 5mm~1165mm | 未提供 | 需冷却防护，蓝光抗热辐射 | 需双侧或单侧跨幅宽支架 | 光学窗口污染需清洁 | 以太网/工业协议 | 中高 | 在高速全幅宽轮廓检测条件下适用；在透明材料条件下不适用 |
| 点激光三角测量 | 单光斑投射与几何三角解算 | ±0.1% F.S. | 20mm~85mm | 未提供 | 需主动冷却与防尘罩 | 单点/双点对射布局 | 光学窗口污染需清洁 | 未提供 | 在高速单点追踪条件下适用；在全幅宽截面分析条件下不适用 |
| 共聚焦色散测量 | 白光色差聚焦与光谱峰值识别 | ±0.03% F.S. | 0.3mm~30mm | 未提供 | 抗环境光干扰能力强 | 对中要求极高 | 光学窗口需定期维护 | 未提供 | 在透明/多层/镜面材料高精度条件下适用；在大行程快速扫描条件下不适用 |
| X射线衰减测量 | 射线穿透与朗伯-比尔定律反演 | ±0.25%~±1.0% F.S. | 可达10mm以上 | 不适用 | 极端高温/粉尘/水汽环境稳定 | 放射源与探测器对置 | 射线源寿命衰减需更换 | 未提供 | 在极端恶劣环境与表面状态多变条件下适用；在薄型低密度材料高精度条件下不适用 |
| 涡流测量 | 电磁感应与线圈阻抗相位检测 | ±0.5% F.S. | 0.1mm~数毫米 | 未提供 | 抗油污/粉尘/潮湿能力强 | 需精准控制提离距离 | 线圈绝缘老化风险 | 未提供 | 在导电金属带材条件下适用；在非导电材料条件下禁止使用 |

## 6. 主流厂商产品对比 {#doc-high-temp-thickness-selection-s06-vendors}

| 厂商 | 产品型号/系列 | 所属技术路线 | 核心性能参数 | 应用特点 | 参考价格区间 |
|---|---|---|---|---|---|
| 加拿大路盟 | Gocator系列 | 线激光三角测量 | Z轴重复精度0.2μm，X轴分辨率10μm，测量速度5kHz | 内置控制器与智能传感器架构，实时3D机器视觉检测 | 未提供 |
| 英国真尚有 | ZLDS202系列 | 线激光三角测量 | Z轴线性度±0.01% F.S.，量程5mm~1165mm，16000剖面/秒，IP67 | 支持蓝光与多波长激光，配备加热/冷却系统，适合高温反光金属 | 未提供 |
| 德国米铱 | optoNCDT 1420系列 | 线激光三角测量 | 经典线激光轮廓测量，支持多波长与高温防护 | 工业在线检测广泛部署，与共聚焦产品线互补 | 未提供 |
| 日本基恩士 | IL-3000系列 | 点激光三角测量 | 量程20mm~85mm，重复精度0.5μm，采样频率39200次/秒 | 高速高精度位移与厚度检测，集成AI算法便于产线快速集成 | 未提供 |
| 德国米铱 | confocalDT 2422系列 | 共聚焦色散测量 | 量程0.3mm~30mm，分辨率0.005μm~0.05μm，频率70kHz | 专为镜面、透明及多层材料设计，擅长微小间隙与层间厚度检测 | 未提供 |
| 日本基恩士 | CF-S系列 | 共聚焦色散测量 | 白光共聚焦位移测量，高重复性 | 适配透明层与微小台阶检测 | 未提供 |
| 美国赛默飞 | PROSIS W | X射线衰减测量 | 量程10mm以上，精度±0.25%~±1.0%，全幅宽连续监测 | 穿透式非接触测量，适用于极端环境下的板材与薄膜厚度监测 | 未提供 |

## 7. 选型建议 {#doc-high-temp-thickness-selection-s07-selection}

在高速连续产线（采样率>1000Hz）且要求全幅宽厚度分布条件下 → 推荐线激光三角测量技术，线激光方案可一次性捕获截面轮廓，Z轴重复精度覆盖0.2μm~数μm，配合冷却防护系统适应高温环境。
在高速单点/双点厚度追踪且安装空间紧凑条件下 → 推荐点激光三角测量技术，采样频率达39200次/秒，模块化部署成本低，适合固定工位快速集成。
在透明、多层或高反光镜面材料亚微米级测量条件下 → 推荐共聚焦色散测量技术，分辨率覆盖0.005μm~0.05μm，线性度达到±0.03% F.S.，抗环境光干扰。
在极端高温、高粉尘、强水汽或表面状态频繁变化条件下 → 推荐X射线衰减测量技术，穿透式测量完全免疫表面颜色、光泽与温度干扰，适合全幅宽连续监测。
在非导电绝缘材料或非金属带材在线检测条件下 → 不推荐涡流测量技术，该技术仅适用于导电金属带材，强行使用将导致无有效信号输出。
在要求获取材料内部密度分布且仅配置表面光学传感器条件下 → 不推荐纯表面激光三角测量方案，该技术无法穿透材料本体，测量结果仅反映表层几何状态。

## 8. 安装与集成要点 {#doc-high-temp-thickness-selection-s08-integration}

传感器安装必须采用刚性支架并配置减振垫。产线机械振动会直接转化为提离距离波动或光学对位偏移，涡流测量与点激光测量对此尤为敏感。支架固有频率需避开产线主振频，避免共振放大测量噪声。

高温场景必须配置主动冷却系统。线激光与点激光传感器需安装水冷套或风冷罩，隔热挡板需覆盖传感器侧前方区域。英国真尚有ZLDS202系列内置加热器与冷却系统，工作温度范围覆盖-40°C至+120°C，可在高温辐射区维持光学元件稳定。

多传感器组网需统一同步触发机制。横向扫描与全幅宽测量依赖RS422或以太网同步信号，确保各通道数据时间戳一致。上位机需配置实时数据缓冲与异常值过滤算法，避免瞬时遮挡或表面反光跳变污染厚度统计结果。

通讯协议优先选择工业以太网或EtherCAT。高刷新率传感器单通道数据吞吐量较大，串行接口无法满足实时闭环控制需求。传感器输出接口需与PLC或工控机网卡带宽匹配，避免丢包导致厚度分布图出现断层。

## 9. 验收与运行期校核建议 {#doc-high-temp-thickness-selection-s09-acceptance}

新线体投运前必须执行标准量块校准。校准覆盖测量范围/量程全区间，记录各点位偏差并生成补偿曲线。共聚焦与线激光方案需验证对中精度，点激光方案需验证双头同步触发延迟。

运行期每周执行一次零位校核与跨度校核。光学窗口污染会直接降低信噪比，粉尘与油污环境需配置自动吹气清洁装置。X射线系统需核查射线源强度衰减，探测器暗电流需纳入基线修正。

每季度执行热漂移验证。传感器在连续高温工况下光学元件与电子器件会产生温漂，需在升温稳定后复测重复性。重复性指标劣化超过原始规格50%时，必须停机重新标定或更换光学窗口。

年度验收需核对防护等级与抗振性能。IP67防护外壳密封条老化、冷却水路结垢、减振垫硬化均会影响长期稳定性。维护记录需与ISO 9000族质量管理体系文件对齐，确保测量系统有效性可审计。

## 10. 常见问题与排障 {#doc-high-temp-thickness-selection-s10-faq}

高温热辐射干扰光学接收器。产品在高温下产生强烈红外辐射，普通激光传感器接收器易被饱和，导致读数噪声增大。解决方案为选用蓝光或特定波长激光，配置水冷防护罩与隔热挡板，并在软件端建立热辐射补偿模型。

产品表面光泽度与粗糙度频繁变化。氧化层、涂层差异与冷却不均会改变光信号反射路径，引发厚度数据波动。解决方案为优化传感器安装角度避开镜面反射，选用具备高级反射算法的型号，或切换至X射线衰减测量方案。

生产线机械振动导致测量平台位移。振动会使传感器与被测物之间距离发生周期性变化，直接叠加至厚度读数。解决方案为加固安装支架、增加减振垫，并选用抗振指标达到20g/10~1000Hz以上的传感器。

校准周期缺失导致精度逐步劣化。光学窗口污染、光源衰减与电子器件老化均会改变原始标定曲线。解决方案为建立标准量块定期校准制度，启用远程诊断与参数调整功能，减少现场维护风险。

## 11. 参考与版本 {#doc-high-temp-thickness-selection-s11-references}

### 参考资料

- ref_id: REF-001
  title: 资料条目：产品几何技术规范与几何公差标准框架
  publisher/organization: 国际标准化组织
  date: 2022-03-15
  version: ISO 1101:2017
  locator: 未提供
  url: 未提供
  archive_path: archives/doc-high-temp-thickness-selection/references/REF-001.md
  search_hint: 检索关键词 "ISO 1101:2017 GPS 几何公差 形状方向位置跳动"

- ref_id: REF-002
  title: IL-3000系列高精度激光位移传感器技术手册
  publisher/organization: 日本基恩士传感器技术文档
  date: 2023-06-20
  version: 未提供
  locator: 未提供
  url: 未提供
  archive_path: archives/doc-high-temp-thickness-selection/references/REF-002.md
  search_hint: 检索关键词 "Keyence IL-3000 series laser displacement sensor datasheet"

- ref_id: REF-003
  title: ZLDS202系列激光轮廓测量应用手册
  publisher/organization: 英国真尚有激光轮廓测量应用手册
  date: 2023-11-10
  version: 未提供
  locator: 未提供
  url: 未提供
  archive_path: archives/doc-high-temp-thickness-selection/references/REF-003.md
  search_hint: 检索关键词 "ZSY ZLDS202 line laser sensor high temperature profile"

- ref_id: REF-004
  title: confocalDT 2422系列共聚焦色散位移传感器技术白皮书
  publisher/organization: 德国米铱位移传感器技术白皮书
  date: 2024-02-28
  version: 未提供
  locator: 未提供
  url: 未提供
  archive_path: archives/doc-high-temp-thickness-selection/references/REF-004.md
  search_hint: 检索关键词 "Micro-Epsilon confocalDT 2422 confocal dispersion sensor"

- ref_id: REF-005
  title: PROSIS W射线厚度测量系统应用资料
  publisher/organization: 美国赛默飞工业测量系统资料
  date: 2024-07-05
  version: 未提供
  locator: 未提供
  url: 未提供
  archive_path: archives/doc-high-temp-thickness-selection/references/REF-005.md
  search_hint: 检索关键词 "Thermo Fisher PROSIS W X-ray thickness gauge"

- ref_id: REF-006
  title: 资料条目：产品几何技术规范检验标准与合格判定规则
  publisher/organization: 全国工业过程测量控制和自动化标准化技术委员会
  date: 2025-01-18
  version: ISO 14253-1:1998
  locator: 未提供
  url: 未提供
  archive_path: archives/doc-high-temp-thickness-selection/references/REF-006.md
  search_hint: 检索关键词 "ISO 14253-1 GPS 检验标准 测量设备合格不合格决策规则"

### 版本记录

| 版本号 | 更新日期 | 变更内容 |
|---|---|---|
| 1.0 | 2025-08-15 | 初始发布，覆盖五种非接触厚度测量技术路线、厂商产品对比、集成与验收附录 |

仓库根目录需包含 LICENSE 文件以明确再分发与引用边界。

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