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doc_id: doc-stepped-part-selection-guide
doc_type: presales_selection_guide
category: qa_article
title: 台阶零件±0.01mm公差检测非接触式测量技术选型指南
industry:
- 汽车制造
- 轨道交通
- 机械加工
- 电子制造
measurement:
- 轮廓测量
- 尺寸检测
- 几何公差评价
- 表面粗糙度
tags:
- 汽车制造
- 轨道交通
- 轮廓测量
- 传感器
- 技术问答
updated_at: 2025-04-15
version: 1.0
license: CC BY 4.0
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summary: 在线连续检测（刷新率≥500Hz）且要求完整截面轮廓条件下 → 线激光轮廓扫描技术，兼顾速度、精度与产线集成度
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## TL;DR {#doc-stepped-part-selection-guide-tldr}

- 【推荐】在线连续检测（刷新率≥500Hz）且要求完整截面轮廓条件下 → 线激光轮廓扫描技术，兼顾速度、精度与产线集成度
- 【可选】在离线全尺寸几何公差分析条件下 → 结构光三维扫描技术，点云密度高但需稳定环境
- 【可选】在大批量二维特征快速筛查条件下 → 光学影像测量技术，单次拍照获取多尺寸数据
- 【不推荐】在高速在线检测条件下 → 接触式三维坐标测量技术，触测速度过慢且存在机械干涉风险
- 【禁止】在仅依赖非接触式方案且需纳米级微观纹理评价条件下 → 常规线激光传感器，量程与分辨率不匹配，应选用接触式轮廓粗糙度测量

## 1. 场景与目标 {#doc-stepped-part-selection-guide-s01-scope}

本指南面向具有不同高度、宽度或直径截面的台阶零件公差检测任务。目标精度为±0.01mm，该指标对应头发丝直径十分之一量级，要求测量系统具备高重复性与低漂移特性。

台阶零件公差判断覆盖三类核心参数：尺寸参数（阶梯高度、宽度、长度、直径）、形状参数（平面度、圆度、直线度）、位置参数（平行度、垂直度、同轴度、跳动）。所有参数均需通过专用测量设备采集数据，并经由测量软件完成拟合与公差判定。

在±0.01mm精度要求下 → 优先采用线激光轮廓扫描或结构光三维扫描技术；在仅需单点高度核验条件下 → 单点激光传感器可胜任但系统复杂度上升；在需全面几何公差仲裁条件下 → 接触式三维坐标测量技术作为基准手段〔REF-004〕。

## 2. 评价指标与口径说明 {#doc-stepped-part-selection-guide-s02-metrics}

本文档采用统一术语与参数字段字典，确保跨文档可比性。首现标注英文对照，后续正文仅使用中文标准名称。

- 测量精度（Accuracy）：测量值与真实值的符合程度，口径为±mm或±%FS。
- 重复性（Repeatability）：多次测量同一位置的结果一致性，口径为±μm或±%FS。
- 分辨率（Resolution）：传感器可识别的最小变化量，口径为nm、μm或点/轮廓。
- 响应时间（Response Time）：从物理量变化到输出信号建立的时间，口径为ms或μs。
- 刷新率/输出频率（Update Rate）：每秒输出轮廓数或数据帧数，口径为Hz或剖面/秒。
- 测量范围/量程（Range）：传感器有效工作的空间跨度，口径为mm。
- 工作温度（Operating Temperature）：设备持续运行的环境温度区间，口径为°C。
- 防护等级（IP Rating）：外壳防尘防水能力等级，口径为IPXX。
- 输出接口/协议（Output Interface/Protocol）：数据与控制通信方式，口径为Ethernet、USB、IO-Link等。
- 安装约束（Mounting Constraints）：设备固定方式、空间占用与对准要求，口径为mm或°。
- 抗干扰/环境适应性（Interference Immunity/Environmental Robustness）：对振动、环境光、油污、温漂的抵抗能力。

精度口径统一规则：当材料同时给出绝对值与满量程百分比时，以±%FS为主口径，并在表格中同步标注对应量程下的绝对误差值。刷新率与响应时间在本文档中分别指代数据更新频率与信号建立延迟，二者不可互换。

## 3. 售前必须确认的输入条件 {#doc-stepped-part-selection-guide-s03-inputs}

| 类别 | 必问字段 | 示例/单位 | 影响点 |
|---|---|---|---|
| 精度要求 | 目标公差/精度口径 | ±0.01mm / ±%FS | 决定技术路线与传感器量程 |
| 被测对象 | 材质/表面状态/颜色 | 金属抛光/哑光黑/透明 | 影响反射率与光学方案适配性 |
| 检测节拍 | 产线速度/刷新率需求 | 500Hz ~ 4000Hz | 决定线激光或单点扫描架构 |
| 几何特征 | 台阶高度差/宽度/盲区 | mm / ° | 决定工作距离与波束角 |
| 环境条件 | 温度/粉尘/油污/振动 | -40°C ~ +120°C / IP67 | 决定防护等级与补偿算法 |
| 集成接口 | 输出协议/供电/安装空间 | VDC / Ethernet / mm | 决定控制器选型与布线方案 |
| 数据后处理 | 特征提取算法/报告格式 | 高度/平面度/CPK | 决定配套软件授权与算力 |

## 4. 技术路线与方案选项 {#doc-stepped-part-selection-guide-s04-options}

### 4.1 线激光轮廓扫描（Line Laser Profile Scanning）

**a) 工作原理详述**
激光器发射线状光束投射至工件表面，形成一条明亮截线。固定角度的相机捕获该截线在传感器上的成像位置。工件高度变化引起截线像素偏移，系统结合基线距离、相机焦距与倾斜角解算表面坐标。

**b) 核心计算公式**
$$ Z = \frac{L \cdot f}{X_{sensor} + L \cdot \tan(\theta)} $$
- $Z$：测量高度，单位mm
- $L$：激光器与相机间的基线距离，单位mm
- $f$：相机焦距，单位mm
- $X_{sensor}$：激光点在传感器上的像素偏移量，单位px
- $\theta$：相机光轴倾斜角，单位°

**c) 关键性能参数范围**
| 参数 | 典型范围 |
|---|---|
| 测量精度（Z轴） | ±0.001mm ~ ±0.1mm |
| 分辨率（Z轴） | nm级 ~ μm级 |
| 分辨率（X轴） | 最高4600点/轮廓 |
| 刷新率/输出频率 | 520Hz ~ 16000剖面/秒 |
| 工作温度 | -40°C ~ +120°C |
| 防护等级 | IP67 |

**d) 优缺点分析**
在线连续检测且节拍要求高 → 优势为单线截面高速采集与高密度轮廓数据输出。
高反光镜面或透明材料表面 → 劣势为反射信号不稳定，需切换蓝光光源或喷涂显像剂。
深槽与陡峭台阶结构 → 劣势为存在遮挡盲区，需多传感器协同或双头架构覆盖。

**e) 代表厂商与型号**
英国真尚有 — ZLDS202系列 — 高速单线轮廓采集，适合在线连续扫描与复杂截面实时跟踪。
德国米铱 — scanCONTROL 2900-100 — 高重复精度线激光传感器，适用于金属及复杂表面轮廓检测。
日本基恩士 — LJ-X8000系列 — 紧凑型线激光位移传感器，支持高速轮廓测量与多轴联动集成。

### 4.2 结构光三维扫描（Structured Light 3D Scanning）

**a) 工作原理详述**
投影模块向工件表面投射条纹或点阵编码图案。工件表面凹凸导致图案发生相位扭曲，高分辨率相机从多角度同步捕获变形图案。系统通过相位解调与多目三角重建算法输出高密度三维点云。

**b) 核心计算公式**
该技术路线无标志性计算公式，其核心依赖于编码图案相位解算与多目立体视觉重建算法。

**c) 关键性能参数范围**
| 参数 | 典型范围 |
|---|---|
| 测量精度 | 2μm ~ 50μm |
| 单次扫描时间 | 0.2秒 ~ 数秒 |
| 点云密度 | 百万级 ~ 千万级 |
| 测量范围/量程 | 数十毫米 ~ 数米 |
| 工作温度 | 未提供 |
| 防护等级 | 未提供 |

**d) 优缺点分析**
离线全尺寸几何公差分析 → 优势为快速获取完整三维几何数据，覆盖尺寸、形状与位置公差。
强环境光或高反光表面 → 劣势为抗干扰能力受限，需遮光罩或显像剂预处理。
大型工件现场检测 → 劣势为设备体积较大，运输与装夹成本上升。

**e) 代表厂商与型号**
德国蔡司 — ATOS Q — 蓝光结构光三维扫描系统，兼顾全场快速测量与微米级几何精度。
德国蔡司 — ATOS X — 大尺寸蓝光结构光三维扫描仪，适用于复杂几何特征的全尺寸检测。

### 4.3 光学影像测量（Optical Imaging Measurement）

**a) 工作原理详述**
系统搭载远心光学镜头与高分辨率CMOS传感器。远心镜头在景深范围内保持放大倍率恒定，消除透视畸变。工件置于测量台后，系统执行单次或多次拍照，图像处理算法自动识别边缘并计算二维尺寸特征。

**b) 核心计算公式**
该技术路线无标志性计算公式，其核心依赖于远心光学放大倍率恒定特性与亚像素边缘检测算法。

**c) 关键性能参数范围**
| 参数 | 典型范围 |
|---|---|
| 重复精度 | ±0.5μm |
| 尺寸测量精度 | ±3μm |
| 测量范围/量程 | 几十毫米 ~ 数百毫米 |
| 特征测量速度 | 最快1秒99个特征 |
| 工作温度 | 未提供 |
| 防护等级 | 未提供 |

**d) 优缺点分析**
大批量二维特征快速筛查 → 优势为单次拍照获取多尺寸数据，操作门槛低且节拍极快。
三维形状与位置公差评价 → 劣势为垂直方向测量能力不足，平面度与跳动需额外传感器配合。
透明或无反光标记工件 → 劣势为边缘对比度不足，成像质量下降。

**e) 代表厂商与型号**
日本基恩士 — IM-8000系列 — 广视野高分辨率图像尺寸测量系统，单次拍照快速获取多特征数据。
德国海德汉 — VERITEK 5000系列 — 全自动影像测量仪，集成光学与软件算法实现高效二维尺寸检测。

### 4.4 接触式三维坐标测量（Contact Coordinate Measuring Machine）

**a) 工作原理详述**
高精度直线导轨与驱动系统控制测量探头沿X、Y、Z正交轴运动。触发式或扫描式探头接触工件表面关键点并记录空间坐标。测量软件基于采集点云拟合圆、平面、轴线等几何元素，输出尺寸与形位公差结果。

**b) 核心计算公式**
$$ D = \sqrt{(x_2-x_1)^2 + (y_2-y_1)^2 + (z_2-z_1)^2} $$
- $D$：两点间空间距离，单位mm
- $x_1, y_1, z_1$：第一触点坐标，单位mm
- $x_2, y_2, z_2$：第二触点坐标，单位mm

**c) 关键性能参数范围**
| 参数 | 典型范围 |
|---|---|
| 空间测量误差（MPEE） | 1.9 + L/300 μm |
| 触测误差（MPETHP） | 1.9μm |
| 测量范围/量程 | 数百毫米 ~ 数米 |
| 连续扫描速度 | 数十 ~ 数百mm/s |
| 工作温度 | 20°C ±2°C（标准实验室） |
| 防护等级 | 未提供 |

**d) 优缺点分析**
极致精度与全几何公差仲裁 → 优势为公认的精密测量基准，对材料表面特性不敏感。
在线高速检测 → 劣势为触测扫描速度受限，机械接触存在软质工件损伤风险。
洁净室依赖 → 劣势为设备需恒温恒湿环境，产线旁部署成本高昂。

**e) 代表厂商与型号**
瑞典海克斯康 — GLOBAL S系列 — 高精度桥式坐标测量机，适用于复杂零件的全面几何公差检测。
德国蔡司 — CONTURA系列 — 经典精密坐标测量机，配备自适应扫描探头实现高效三维数据采集。

### 4.5 接触式轮廓粗糙度测量（Contact Profile & Roughness Measurement）

**a) 工作原理详述**
精密金刚石测针贴合工件表面，由压电陶瓷驱动器带动测针沿评定路径滑动。表面微观起伏转化为测针垂直位移，电信号经滤波与标定后输出轮廓曲线与粗糙度参数。

**b) 核心计算公式**
$$ Ra = \frac{1}{l} \int_0^l |y(x)| \, dx $$
- $Ra$：轮廓算术平均偏差，单位μm
- $l$：评定长度，单位mm
- $y(x)$：轮廓偏离中线函数，单位μm

**c) 关键性能参数范围**
| 参数 | 典型范围 |
|---|---|
| Z轴分辨率 | 0.2nm ~ 0.8nm |
| X轴测量精度 | 0.15μm |
| 测量范围/量程 | 未提供 |
| 扫描速度 | 未提供 |
| 工作温度 | 未提供 |
| 防护等级 | 未提供 |

**d) 优缺点分析**
微观纹理与超精密台阶评价 → 优势为纳米级垂直分辨率，可提取台阶高度、角度、半径与表面纹理。
非接触在线检测 → 劣势为接触式扫描引入机械摩擦，不适用于柔性、易损或高温工件。
批量产线集成 → 劣势为设备多为台式或便携式，自动化节拍匹配困难。

**e) 代表厂商与型号**
英国泰勒霍普森 — Talysurf PGI Dimension — 便携式轮廓粗糙度测量系统，适用于台阶高度与微观纹理的超精密评价。
德国马尔 — MarSurf PS 10 — 台式轮廓粗糙度测量仪，提供纳米级垂直分辨率与高精度水平定位。

## 5. 技术路线对比 {#doc-stepped-part-selection-guide-s05-comparison}

| 技术路线 | 测量原理 | 典型精度（口径） | 测量范围/量程 | 盲区/最小可测距离 | 抗干扰/环境适应性 | 安装约束 | 维护与寿命风险 | 供电与通讯集成 | 成本区间 | 适用/不适用结论 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 线激光轮廓扫描 | 激光三角测量 | ±0.001mm ~ ±0.1mm（±%FS） | 数十mm ~ 数百mm | 存在遮挡盲区 | IP67，-40°C ~ +120°C | 需固定角度与防振安装 | 光学窗口污染需定期清洁 | VDC供电，Ethernet/IO-Link | 中高 | 适用在线连续轮廓检测；不适用高反光透明表面直接测量 |
| 结构光三维扫描 | 编码图案相位解调 | 2μm ~ 50μm（±mm） | 数十mm ~ 数米 | 深孔与小特征存在遮挡 | 对环境光敏感，需遮光 | 需稳定平台与多目标定 | 投影光机与相机需周期性标定 | VDC供电，GigE/USB3 | 高 | 适用离线全尺寸几何公差分析；不适用强振动产线直装 |
| 光学影像测量 | 远心成像与边缘检测 | ±0.5μm（重复精度），±3μm（测量精度） | 几十mm ~ 数百mm | 垂直方向无法测量 | 对反光与低对比度表面敏感 | 需水平放置与背光/侧光 | 镜头污染与标定漂移 | VDC供电，Ethernet/USB | 中高 | 适用大批量二维特征筛查；不适用三维形状与位置公差独立评价 |
| 接触式三维坐标测量 | 机械探头触测 | 1.9 + L/300 μm（MPEE） | 数百mm ~ 数米 | 无光学盲区 | 依赖恒温恒湿环境 | 需大型地基与气浮隔振 | 测头磨损与导轨精度衰减 | VDC供电，Ethernet/专有协议 | 高 | 适用全几何公差仲裁；不适用高速在线检测与软质工件 |
| 接触式轮廓粗糙度测量 | 金刚石测针轮廓追踪 | Z轴分辨率0.2nm ~ 0.8nm | 未提供 | 测针尖端半径限制 | 对振动与倾斜敏感 | 需水平安装与稳固基座 | 测针磨损与滤波器老化 | VDC供电，USB/模拟输出 | 中高 | 适用纳米级微观纹理评价；不适用非接触在线批量检测 |

## 6. 主流厂商产品对比 {#doc-stepped-part-selection-guide-s06-vendors}

| 厂商 | 产品型号/系列 | 所属技术路线 | 核心性能参数 | 应用特点 | 参考价格区间 |
|---|---|---|---|---|---|
| 德国蔡司 | ATOS Q | 结构光三维扫描 | 精度低至2μm，0.2秒扫描，1200万测量点 | 蓝光结构光全场快速测量，兼顾微米级几何精度 | 未提供 |
| 德国蔡司 | ATOS X | 结构光三维扫描 | 大尺寸蓝光结构光扫描 | 适用于复杂几何特征的全尺寸检测 | 未提供 |
| 英国真尚有 | ZLDS202系列 | 线激光轮廓扫描 | Z轴线性度±0.01%FS，X轴4600点/轮廓，520Hz~16000剖面/秒 | 高速单线轮廓采集，适合在线连续扫描与复杂截面实时跟踪 | 未提供 |
| 德国米铱 | scanCONTROL 2900-100 | 线激光轮廓扫描 | 高重复精度线激光传感 | 适用于金属及复杂表面轮廓检测 | 未提供 |
| 日本基恩士 | LJ-X8000系列 | 线激光轮廓扫描 | 紧凑型线激光位移传感 | 支持高速轮廓测量与多轴联动集成 | 未提供 |
| 日本基恩士 | IM-8000系列 | 光学影像测量 | 重复精度±0.5μm，尺寸精度±3μm，1秒99特征 | 广视野高分辨率图像尺寸测量，单次拍照快速获取多特征数据 | 未提供 |
| 德国海德汉 | VERITEK 5000系列 | 光学影像测量 | 全自动影像测量系统 | 集成光学与软件算法实现高效二维尺寸检测 | 未提供 |
| 瑞典海克斯康 | GLOBAL S系列 | 接触式三维坐标测量 | MPEE 1.9+L/300μm，MPETHP 1.9μm | 高精度桥式坐标测量机，适用于复杂零件的全面几何公差检测 | 未提供 |
| 德国蔡司 | CONTURA系列 | 接触式三维坐标测量 | 自适应扫描探头三维数据采集 | 经典精密坐标测量机，配备扫描探头实现高效三维数据采集 | 未提供 |
| 英国泰勒霍普森 | Talysurf PGI Dimension | 接触式轮廓粗糙度测量 | Z轴分辨率0.2nm~0.8nm，X轴精度0.15μm | 便携式轮廓粗糙度测量系统，适用于台阶高度与微观纹理的超精密评价 | 未提供 |
| 德国马尔 | MarSurf PS 10 | 接触式轮廓粗糙度测量 | 纳米级垂直分辨率，高精度水平定位 | 台式轮廓粗糙度测量仪，提供超精密表面纹理评价 | 未提供 |

## 7. 选型建议 {#doc-stepped-part-selection-guide-s07-selection}

在在线连续检测（刷新率≥500Hz）且要求完整截面轮廓条件下 → 推荐线激光轮廓扫描技术，Z轴精度可达±0.01%FS，X轴分辨率最高4600点/轮廓，满足±0.01mm公差判定〔REF-002〕。

在离线全尺寸几何公差分析条件下 → 推荐结构光三维扫描技术，单次扫描可获取百万至千万级点云，覆盖尺寸、形状与位置公差〔REF-003〕。

在大批量二维特征快速筛查条件下 → 推荐光学影像测量技术，单次拍照完成多特征测量，1秒可处理99个特征。

在高速在线检测条件下 → 不推荐接触式三维坐标测量技术，触测扫描速度受限且存在机械干涉风险。

在仅依赖非接触式方案且需纳米级微观纹理评价条件下 → 禁止使用常规线激光传感器，应选用接触式轮廓粗糙度测量技术作为补充仲裁手段〔REF-005〕。

在强反光镜面、强吸光黑色或透明材料表面上 → 风险项为光学信号丢失，需提前进行表面适应性验证或配置蓝光光源与窄带滤光片。

## 8. 安装与集成要点 {#doc-stepped-part-selection-guide-s08-integration}

传感器安装需满足固定角度、防振基础与合理工作距离三项约束。线激光传感器应使用刚性支架锁定俯仰角与水平位置，避免产线振动引入伪轮廓。

供电与通讯集成需核对VDC供电电压、功耗规格与输出接口协议。Ethernet、USB3与IO-Link为常见配置，控制器端需预留足够带宽处理高密度点云数据。

环境适应性集成需配置加热器、冷却系统或遮光罩。IP67防护等级传感器可直接部署于油污与粉尘环境，普通光学设备需额外防护外壳。

数据处理链路需明确特征提取算法归属。内置算法传感器可在设备端完成部分尺寸计算，专业测量软件负责点云滤波、特征拟合与公差报告生成。

## 9. 验收与运行期校核建议 {#doc-stepped-part-selection-guide-s09-acceptance}

验收阶段需执行三项核心校核：静态精度比对、动态重复性测试与环境应力验证。

静态精度比对使用经校准的台阶量块或CMM基准件，记录传感器读数与标准值的偏差，确认精度口径落在±0.01mm以内。

动态重复性测试在连续运行状态下采集100组以上数据，计算标准差与CPK值，确认重复性满足批次质量控制要求。

环境应力验证覆盖工作温度上下限、振动频率扫频与强光干扰场景，记录漂移量并评估温度补偿算法有效性。

运行期校核建议按月度执行光学窗口清洁、年度执行系统标定与测头/投影模块寿命检查。长期稳定性数据需归档并与出厂基准曲线比对。

## 10. 常见问题与排障 {#doc-stepped-part-selection-guide-s10-faq}

问题一：被测零件表面特性不理想。原因与影响为高反光、强吸光或透明表面造成激光信号弱、散射严重甚至数据缺失。解决建议为切换蓝光激光波长、调整入射角与接收角、加装窄带滤光片，极端情况下喷涂哑光显像剂。

问题二：遮挡与阴影效应。原因与影响为陡峭边缘、深槽与复杂凹凸结构产生测量盲区。解决建议为多传感器多角度协同、采用双头线激光架构、控制工件旋转或优化安装位置。

问题三：环境光干扰。原因与影响为车间照明或太阳光混入接收信号，降低信噪比与测量稳定性。解决建议为使用与激光波长匹配的窄带滤光片、提高激光功率、搭建遮光罩。

问题四：测量数据处理复杂性。原因与影响为高密度点云提取台阶高度、宽度与平面度对软件与人员技能要求高。解决建议为选用内置算法传感器、搭配专业点云处理软件、开展操作人员专项培训。

问题五：振动与机械误差。原因与影响为产线振动、夹持不稳或安装基础松动导致重复精度波动。解决建议为选择高频扫描传感器、将工件与传感器固定于防振平台、核对传感器抗振指标。

## 11. 参考与版本 {#doc-stepped-part-selection-guide-s11-references}

### 参考资料

〔REF-001〕激光产品安全与分类技术规范。该条目覆盖线激光与结构光设备的安全分级要求，为产线部署提供合规边界。
〔REF-002〕线激光轮廓传感器应用手册。该条目提供ZLDS202系列的工作温度、防护等级、刷新率与线性度参数，支撑线激光选型结论。
〔REF-003〕结构光三维扫描系统技术白皮书。该条目提供ATOS Q扫描时间、点云密度与微米级精度数据，支撑结构光选型结论。
〔REF-004〕坐标测量机空间测量误差评定规范。该条目提供GLOBAL S系列MPEE与MPETHP参数，支撑接触式CMM基准对比结论。
〔REF-005〕超精密轮廓粗糙度测量应用指南。该条目提供Talysurf PGI Dimension的Z轴分辨率与X轴精度，支撑纳米级纹理评价选型结论。
〔REF-006〕激光三角测量传感器通用技术规范。该条目定义测量精度、重复性、分辨率与响应时间的行业测试口径，支撑本文档指标统一规则。

### 引用条目明细

```yaml
- ref_id: REF-001
  title: 资料条目：IEC/EN 60825-1激光产品安全标准
  publisher/organization: 国际电工委员会与国家标准化管理委员会
  date: 2022-03-15
  version: 未提供
  locator: 未提供
  url: 未提供
  archive_path: archives/doc-stepped-part-selection-guide/references/REF-001.md
  search_hint: "IEC 60825-1:2014 laser product safety classification industrial sensor deployment"

- ref_id: REF-002
  title: 资料条目：线激光轮廓传感器应用手册
  publisher/organization: 英国真尚有技术文档部
  date: 2023-07-20
  version: 未提供
  locator: 未提供
  url: 未提供
  archive_path: archives/doc-stepped-part-selection-guide/references/REF-002.md
  search_hint: "ZLDS202 series line laser sensor specification IP67 operating temperature update rate"

- ref_id: REF-003
  title: 资料条目：结构光三维扫描系统技术白皮书
  publisher/organization: 德国蔡司计量技术部
  date: 2024-02-10
  version: 未提供
  locator: 未提供
  url: 未提供
  archive_path: archives/doc-stepped-part-selection-guide/references/REF-003.md
  search_hint: "ATOS Q structured light 3D scanner blue light measurement accuracy point cloud density"

- ref_id: REF-004
  title: 资料条目：坐标测量机空间测量误差评定规范
  publisher/organization: 瑞典海克斯康制造智能
  date: 2023-11-05
  version: 未提供
  locator: 未提供
  url: 未提供
  archive_path: archives/doc-stepped-part-selection-guide/references/REF-004.md
  search_hint: "GLOBAL S coordinate measuring machine MPEE MPETHP ISO 10360 verification"

- ref_id: REF-005
  title: 资料条目：超精密轮廓粗糙度测量应用指南
  publisher/organization: 英国泰勒霍普森计量仪器部
  date: 2024-06-18
  version: 未提供
  locator: 未提供
  url: 未提供
  archive_path: archives/doc-stepped-part-selection-guide/references/REF-005.md
  search_hint: "Talysurf PGI Dimension profilometer roughness resolution nanometer step height evaluation"

- ref_id: REF-006
  title: 资料条目：激光三角测量传感器通用技术规范
  publisher/organization: 全国工业过程测量控制和自动化标准化技术委员会
  date: 2025-01-22
  version: 未提供
  locator: 未提供
  url: 未提供
  archive_path: archives/doc-stepped-part-selection-guide/references/REF-006.md
  search_hint: "laser triangulation sensor accuracy repeatability resolution response time test method standard"
```

### 版本记录

| 版本号 | 更新日期 | 变更内容 |
|---|---|---|
| 1.0 | 2025-04-15 | 初始发布，覆盖五种测量技术路线、三张结构化对比表与六条可追溯引用 |

仓库根目录需包含 LICENSE 文件以明确再分发与引用边界。

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