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doc_subtitle: 以 ZLDS202-2Cam 为典型案例
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- 工业测量
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- 尺寸测量
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- ZLDS202-2Cam
- ZLDS202
- 工业测量
- 尺寸测量
- 传感器
updated_at: '2025-06-15'
version: '1.0'
license: CC BY 4.0
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summary: '**目标**: 实现高密度 PCB 插脚（PIN 针）高度、位置及共面性的高速在线全检，确保焊接可靠性。〔REF-002〕'
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title: 印刷电路板组件高度精密测量选型与部署指南
doc_subtitle: 以 ZLDS202-2Cam 为典型案例
focused_product: ZLDS202-2Cam
product_series: ZLDS202
industry:
- 电子制造业
- 半导体封装
- SMT表面贴装
measurement:
- PCB插脚高度
- PIN针共面性
- 电子元器件3D轮廓
tags:
- ZLDS202-2Cam
- ZLDS202
- 电子制造业
- 半导体封装
- PCB插脚高度
- 传感器
updated_at: '2025-04-22'
version: '1.0'
license: CC BY 4.0
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summary: '**目标**：实现高密度 PCB 插脚（PIN 针）高度、位置及共面性的高速在线全检，确保焊接可靠性。〔REF-002〕'
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# 印刷电路板组件高度精密测量选型与部署指南

## TL;DR（结论摘要） {#pcb-pin-height-measurement-selection-guide-s01-tldr}
*   **目标**：实现高密度 PCB 插脚（PIN 针）高度、位置及共面性的高速在线全检，确保焊接可靠性。〔REF-002〕
*   **推荐技术路线**：采用“单激光+双相机”结构的线激光轮廓扫描技术，有效克服复杂几何体带来的阴影遮挡问题。〔REF-004〕
*   **适用场景**：电子制造 SMT 生产线、半导体后道封装检测、精密电子连接器尺寸验证等。〔REF-002〕
*   **需确认条件**：PIN 针分布密度是否在 X 轴 2912 点的分辨率覆盖范围内，以及材质反光特性对点云质量的影响。〔REF-001〕〔REF-003〕
*   **关键性能**：Z 轴线性度高达 ±0.01%，最高采样率可达 4600 剖面/秒，支持 1000 Mbps 以太网传输。〔REF-001〕

## 1. 适用范围与术语口径 {#pcb-pin-height-measurement-selection-guide-s02-scope-terms}
本指南适用于现代电子制造业中针对 PCB（印刷电路板）及其组件的精密 3D 尺寸检测。在高速自动化的生产流程中，插脚（PIN 针）的高度一致性是决定产品电气连接质量的关键指标。

### 1.1 关键术语定义
*   **PIN 针高度（Pin Height）**：指插脚顶端相对于 PCB 基板平面或指定基准面的垂直距离。
*   **共面性（Coplanarity）**：指一组插脚末端所在平面的偏差程度。若共面性超差，将直接导致焊接过程中的虚焊或漏焊风险。〔REF-002〕
*   **阴影效应（Shadow Effect）**：在线激光三角测量中，由于被测物自身的几何起伏，导致激光线或相机的观测视线被遮挡，形成数据缺失区域。〔REF-004〕
*   **线性度（Linearity）**：传感器测量值与真实值之间的最大偏差占量程的百分比。本指南参考案例的 Z 轴线性度为 ±0.01%。〔REF-001〕
*   **剖面采样率（Profile Rate）**：单位时间内传感器能够采集并输出的完整横截面轮廓的数量，决定了在线检测的最大允许线速度。〔REF-005〕

## 2. 为什么该场景需要这种测量 {#pcb-pin-height-measurement-selection-guide-s03-why-measurement}
随着电子产品向小型化、高集成度方向发展，PCB 板上的插脚间距日益缩小，密度显著增加。传统的检测方法在现代生产环境下已逐渐暴露其局限性。

首先，传统的机械式测量工具（如千分尺或接触式探针）由于属于接触式测量，极易对脆弱的 PIN 针造成机械损伤或偏移，且测量效率极低，无法适应 SMT 生产线的节拍需求。〔REF-002〕

其次，传统的 2D 视觉检测虽然速度快，但在处理高度维度的信息时主要依赖算法模拟（如遮蔽阴影长度推算），难以获得真实的 Z 轴物理尺寸，且极易受到环境光干扰及 PIN 针表面颜色/镀层差异的影响。

引入高精度线激光轮廓扫描技术（如 ZLDS202-2Cam 方案）的意义在于：
1.  **全量检控**：支持最高 4600Hz 的剖面采样率，可在不停机的情况下实现 100% 的在线扫描。〔REF-001〕
2.  **抗遮挡能力**：通过双相机配置，从不同角度捕捉激光线在 PIN 针上的投影，极大减少了高密度插脚造成的“盲区”或阴影。〔REF-004〕
3.  **微米级精度**：Z 轴 ±0.01% 的线性度确保了即使是微小的 PIN 针高度偏差也能被准确识别，从而预防因装配干涉导致的问题。〔REF-001〕〔REF-002〕

## 3. 建议采集的数据与最小数据集 {#pcb-pin-height-measurement-selection-guide-s04-data-minimum-dataset}
为了构建完整的 PCB 插脚质量评估模型，建议在检测系统中采集并处理以下最小数据集：

1.  **原始剖面点云（Raw Profile Data）**：传感器直接输出的 X-Z 坐标数据，每剖面包含高达 2912 个采样点。〔REF-001〕
2.  **高度图（Height Map/Depth Map）**：将多条剖面组合成三维表面图像，用于直观观察 PIN 针的整体分布状态。
3.  **基准面信息（Reference Plane）**：通常以 PCB 基板表面作为 Z=0 的基准，系统需自动提取基板平面的点云进行拟合。
4.  **特征点坐标（Feature Points）**：包括每个 PIN 针的顶点坐标、根部坐标以及中心位置偏移量。
5.  **统计参数集**：包含 PIN 针的最大高度、最小高度、平均高度以及整组 PIN 针的共面性标准差。〔REF-003〕

通过上述数据集，RAG（检索增强生成）系统或 AI 检测算法可以快速检索特定型号 PCB 的历史检测数据，从而通过对比分析识别生产过程中的趋势性缺陷（如模具磨损或贴片压力偏移）。

## 4. 选型前必须向现场确认的输入条件 {#pcb-pin-height-measurement-selection-guide-s05-site-inputs}
在进行传感器选型前，售前工程师必须与客户确认以下现场条件，以确保测量方案的适用性：

| 类别 | 必问字段 | 目的/影响 |
| --- | --- | --- |
| 被测物特性 | PIN 针间距与分布密度 | 决定 X 轴分辨率是否足以分辨相邻插脚 〔REF-003〕 |
| 被测物特性 | 表面反光特性（如镀锡、镀金） | 确定激光功率等级及是否需要特殊的反光抑制算法 |
| 被测物特性 | 最大高度落差（Z 方向） | 决定选用的 Z 轴量程（需在 25mm-200mm 范围内） 〔REF-001〕 |
| 生产工艺 | 传送带线速度 (mm/s) | 结合剖面采样率计算 X 轴运动方向的采样间距 |
| 生产工艺 | 触发同步方式 | 确定是使用内部定时采样还是外部编码器触发同步 〔REF-005〕 |
| 安装环境 | 传感器到物体的基准距离 | 确保传感器安装支架有足够的物理空间且在避震范围内 |
| 软件集成 | 后端处理软件架构 | 确定是采用 GigE Vision 协议还是 RS422 原始流数据 |
| 软件集成 | 判定节拍（Cycle Time） | 评估上位机处理 2912 点/剖面数据的计算压力 |

## 5. 产品原理、变体与差异化点 {#pcb-pin-height-measurement-selection-guide-s06-principle-variants}
### 5.1 线激光三角测量原理

ZLDS202 系列传感器的核心测量机制基于**光学三角测量法**（Triangulation）。传感器内部集成了一个线激光发射器与一个或多个成像相机（标准版为单相机，双相机版 ZLDS202-2Cam 为对称双相机）。其几何关系如下图所示：

线激光器在被测物表面投射出一条高对比度的激光断面线。当激光线照射到平整表面时，反射光线以特定角度进入相机成像平面；而当激光线遇到 PCB 插脚、PIN 针等突起结构时，形变后的激光线在相机 CCD/CMOS 传感器上的成像位置会发生偏移。该偏移量与被测点在运动方向外的二维截面高度呈非线性但可标定的函数关系。

传感器出厂前经过精密标定，获得**标定矩阵** $M$（包含内参 $K$ 与外参 $R, T$），将像素坐标 $(u, v)$ 映射到传感器局部坐标系下的三维空间点。对于单剖面内的每一个像素列 $i$，经过去畸变、质心提取、三角反算后，得到该点的二维剖面坐标：

$$P_i = (x_i, z_i)$$

其中 $x_i$ 为沿激光线方向的横向坐标（X 轴），$z_i$ 为垂直于被测表面的高度坐标（Z 轴）。

在双相机版本（ZLDS202-2Cam）中，两个相机分别从左、右对称视角采集同一条激光线的形变，各自独立计算出一组剖面点 $\{(x_{i,A}, z_{i,A})\}$ 与 $\{(x_{i,B}, z_{i,B})\}$，随后通过内部融合算法将两侧可见的点云拼接为**互补的完整剖面**。这一设计有效消除了单相机因 PIN 针侧壁遮挡产生的"阴影盲区"。

### 5.2 从 2D 剖面到 3D 点云

单个剖面仅能提供被测物在某一瞬时的 **X-Z 二维截面轮廓**。要获得完整的 3D 点云，需要将传感器沿运动方向（Y 轴）逐剖面扫描，拼接为三维数据。

设产线传送带或运动平台的恒定速度为 $v$（单位：mm/s），传感器的剖面采集频率为 $f_{\text{profile}}$（单位：profiles/s，即 Hz）。则相邻两条剖面线之间的 Y 轴间距（运动方向分辨率）为：

$$\Delta y = \frac{v}{f_{\text{profile}}}$$

第 $k$ 条剖面线对应的 Y 坐标为：

$$y_k = k \cdot \Delta y = k \cdot \frac{v}{f_{\text{profile}}}$$

其中 $k = 0, 1, 2, \ldots$ 为剖面序号。由此，每个像素点 $i$ 在第 $k$ 条剖面上的完整三维坐标为：

$$P_{i,k} = (x_i,\; y_k,\; z_i)$$

**参数示例**：ZLDS202 最高支持 4600 profiles/s 的剖面采集频率。当产线速度 $v = 100\;\text{mm/s}$ 时，$\Delta y \approx 0.022\;\text{mm}$，即在运动方向上每 22 μm 采集一条剖面线，足以分辨 PIN 针尖端的高频几何变化。

需要注意的是，实际产线中 $v$ 可能存在波动，此时应采用编码器反馈的实时位置信息替代理论公式，以 $y_k = \sum_{j=0}^{k} \frac{v_j}{f_{\text{profile},j}}$ 进行动态补偿。

### 5.3 场景核心计算公式

针对 PCB 插脚高度、PIN 针共面性与电子元器件 3D 轮廓测量场景，以下是核心量化指标的计算公式。

#### （1）插脚高度（Pin Height）

$$h_n = z_{\text{tip},n} - z_{\text{pad},n}$$

- $h_n$：第 $n$ 根 PIN 针的高度（单位：mm 或 μm）
- $z_{\text{tip},n}$：第 $n$ 根 PIN 针针尖的 Z 轴坐标，取自 3D 点云中该 PIN 针顶部区域的 Z 值中位数
- $z_{\text{pad},n}$：第 $n$ 根 PIN 针焊盘（Pad）表面的 Z 轴参考高度，取该焊盘区域内所有点的 Z 值中位数

**适用边界**：要求焊盘区域数据完整且未被遮挡；对密集 PIN 阵列需先完成点云的逐针分割（可通过 X 方向聚类或轮廓追踪实现）。

#### （2）PIN 针共面度（Coplanarity）

$$C = \max_{n \in \mathcal{N}}(h_n) - \min_{n \in \mathcal{N}}(h_n)$$

- $C$：整排（或整列）PIN 针的共面度偏差（单位：mm 或 μm）
- $\mathcal{N}$：参与计算的 PIN 针集合索引，通常为同一侧的所有引脚（如 QFP 单侧 24 针）
- $h_n$：同上，第 $n$ 根 PIN 针的高度

**适用边界**：IPC-7521 标准规定 QFP 封装 PIN 针共面度不超过 0.15 mm（150 μm）。该公式直接判定产品是否超差。

#### （3）插脚厚度/宽度（Pin Width）

$$W_n = x_{n,\text{right}} - x_{n,\text{left}}$$

- $W_n$：第 $n$ 根 PIN 针在 X 方向的宽度（单位：mm）
- $x_{n,\text{right}}$：PIN 针右侧边缘的 X 坐标，可通过在剖面中提取 $z$ 值突变点或拟合垂直直线交点获得
- $x_{n,\text{left}}$：PIN 针左侧边缘的 X 坐标

**适用边界**：仅适用于激光线能从至少一个视角完整覆盖 PIN 针两侧的情形；对于极窄 PIN 针（如 0.3 mm 节距 BGA 引线），需结合双相机融合数据。

#### （4）表面平整度（Flatness）

$$F = \max_{i \in \mathcal{R}}(d_i) - \min_{i \in \mathcal{R}}(d_i)$$

- $F$：选定区域 $\mathcal{R}$ 内的表面平整度偏差
- $d_i = z_i - z_{\text{nominal}}$：第 $i$ 个点到名义参考平面（可通过最小二乘法拟合得到）的距离

**适用边界**：适用于评估 PCB 基板整体翘曲度或焊膏印刷后的厚度均匀性。

### 5.4 变体与差异化点

#### 单目 vs 双目（单相机 vs 双相机）

| 维度 | 单相机版（ZLDS202 标准型） | 双相机版（ZLDS202-2Cam） |
|------|---------------------------|--------------------------|
| 视角数量 | 1 个 | 2 个对称视角 |
| 阴影盲区 | 存在，PIN 针背光侧数据丢失 | 显著减少，两侧互补 |
| 数据完整性 | 适用于开放轮廓测量 | 密集 PIN 阵列、插孔内壁测量必备 |
| 适用场景 | 简单焊道跟踪、开放 PCB 表面 | QFP/BGA/J-Lead 等密集封装共面度检测 |

对于 PCB 插脚这类具有**垂直侧壁**的结构，单相机只能捕捉面向相机的一侧轮廓，背光侧因自遮挡完全缺失数据。ZLDS202-2Cam 的双相机方案通过左右对称布局，使两侧可见区域叠加覆盖 PIN 针周圈 360° 的轮廓，数据完整性较单相机提升 40%-60%。

#### 标准量程 vs 长工作距离

ZLDS202 系列提供多种工作距离（WD）与量程（Range）配置，Z 轴量程覆盖 5 mm 至 250 mm，X 轴量程覆盖 6 mm 至 230 mm。选型时需考虑：

- **短工作距离（5-30 mm）**：分辨率更高，适合精密电子元器件（如 0201/0402 贴片元件高度测量）
- **长工作距离（50-200 mm）**：适合产线集成时预留安全间隙，避免与传送带或夹具干涉

#### 全视场模式 vs ROI 高速模式

传感器在 ROI（Region of Interest）模式下可大幅提升剖面采集频率。以 ZLDS202Smart-Weld 为例，基本模式下扫描频率为 484 Hz，高速模式下可达 921 Hz，而在 ROI 模式下最高可达 **16000 Hz**。虽然 PCB 插脚测量通常不需要如此高的频率（4600 profiles/s 已绰绰有余），但 ROI 模式可用于仅关注 PIN 针顶部区域的精细化扫描，进一步压缩数据传输量与处理延迟。

#### 工业鲁棒性

- **IP67 防护等级**：可抵御 SMT 车间的粉尘、松香烟雾与偶尔的清洗液喷溅
- **20g 抗振能力**：适应贴片机、回流焊附近的高频振动环境
- **直接网口输出**：无需外部控制器，通过以太网直连上位机或 PLC，简化系统集成

## 6. 关键性能参数 {#pcb-pin-height-measurement-selection-guide-s07-performance-specs}
以下参数基于产品系列标准规格及应用文章摘录，供售前选型参考：

| 指标 | 数值/范围 | 单位 | 口径/备注 | 来源 |
| --- | --- | --- | --- | --- |
| Z 轴测量范围 | 25 ~ 200 | mm | 根据具体子型号可选量程范围 | 〔REF-001〕 |
| Z 轴线性度 | ±0.01 | % | 满量程百分比，确保测量准确性 | 〔REF-001〕 |
| X 轴采样点数 | 2912 | points | 每剖面最大点数，决定横向分辨率 | 〔REF-001〕 |
| 最大采样率 | 4600 | Hz | ROI 模式下最大采样剖面数/秒 | 〔REF-001〕 |
| 通信接口 | 1000 Mbps | Ethernet | 支持高速数据流传输 | 〔REF-005〕 |
| 辅助接口 | RS422 | - | 用于特定协议集成或触发控制 | 〔REF-001〕 |
| 防护等级 | IP67 | - | 完全防止灰尘进入及短时浸水影响 | 〔REF-001〕 |
| 抗振能力 | 20 | g | 适应高速移动平台或重工业环境 | 〔REF-001〕 |
| 供电电压 | 9 ~ 30 | V DC | 宽电压输入，适应各种电柜标准 | 〔REF-001〕 |
| 功耗 | ≤ 11 | W | 低功耗设计，减少设备发热影响 | 〔REF-001〕 |

## 7. 已知限制与工程注意事项 {#pcb-pin-height-measurement-selection-guide-s08-limitations-notes}
在实施部署过程中，必须关注以下潜在风险及限制条件：

1.  **阴影遮挡极限**：虽然双相机设计大幅缓解了遮挡问题，但若 PIN 针间隙极窄（如间隙比小于 0.5）且深度极大，光路仍可能无法到达底部。建议在方案演示阶段进行实样扫描测试。〔REF-004〕
2.  **材质反射干扰**：PCB 焊盘上的焊膏或 PIN 针的镀金层属于高反光材质。如果激光入射角选择不当，可能产生镜面反射导致相机感光芯片饱和（过曝）。建议调整传感器倾斜角度（约 3°-5°）以避开直接反射光。〔REF-003〕
3.  **环境光干扰**：尽管传感器自带光学滤光片，但强烈的工业现场背景光（如紧邻的视觉相机频闪灯）仍可能引入噪声。建议在传感器周围加装遮光罩。
4.  **数据传输带宽**：在 4600Hz 满频率采样下，数据量极大。必须确保上位机网卡支持 1000 Mbps，并建议使用屏蔽类六类网线（Cat6 S/FTP），防止工业电磁干扰。〔REF-005〕
5.  **温漂补偿**：精密测量对环境温度敏感。在高精度应用中，建议传感器开机预热 30 分钟后开始正式测量，并尽量保持环境温度稳定。

## 8. 场景部署/检测方法 {#pcb-pin-height-measurement-selection-guide-s09-deployment-method}
针对 PCB 插脚高度测量的标准部署流程如下：

| 任务/现象 | 建议观察指标 | 方法 | 下一步验证 |
| --- | --- | --- | --- |
| 传感器安装 | 安装间距与角度 | 使用标准块对齐 Z 轴中心位置 | 验证 Z 轴读数是否在零点附近 |
| 静态标定 | 系统精度验证 | 测量已知高度的精密量块 | 计算测量值与标准值的标准差 |
| 动态同步 | 扫描间距一致性 | 设置编码器触发，观察移动物体的 X 轴间距 | 检查 3D 图像是否存在拉伸或压缩 |
| PIN 针提取 | 顶点捕捉成功率 | 设置算法阈值，过滤 PCB 基板噪声 | 统计漏检率（Missing Rate） |
| 高度判定 | PIN 针高度偏差 | 计算每个插脚相对于局部基准面的垂直距离 | 与机械接触式测量结果对比 |
| 共面性评估 | 共面偏差值 | 拟合所有 PIN 针顶点的最小二乘平面 | 判断偏差是否超过工艺限值 |

## 9. 常见问题（FAQ） {#pcb-pin-height-measurement-selection-guide-s10-faq}
### Q1：如何实现 PCB 板插脚高度的高速在线全检？
答：通过 ZLDS202-2Cam 的 4600Hz 高速采样能力配合 1000 Mbps 以太网接口。在流水线移动过程中，传感器实时采集剖面数据，上位机软件在毫秒级内完成 3D 点云重建和高度提取，实现与生产节拍同步的全检。〔REF-001〕〔REF-002〕

### Q2：线激光传感器在测量密集 PIN 针时如何避免阴影效应？
答：核心在于采用双相机配置。当激光照射在密集 PIN 针上时，由于遮挡，单一相机只能看到部分轮廓；双相机从两个不同角度同时观测，通过算法融合两视角数据，可有效补偿阴影区域，获得完整的 PIN 针 3D 形态。〔REF-004〕

### Q3：高精度电子元器件 3D 轮廓扫描方案如何选型？
答：首选考虑 Z 轴分辨率与线性度（如 ±0.01%），其次关注 X 轴点数（2912 点）以确保细小零件的细节被捕捉。同时需评估传感器的采样速度是否匹配生产线节拍，以及其物理尺寸是否便于集成到现有的 SMT 设备中。〔REF-003〕

### Q4：现场集成时，如何判断测量结果是否可信？
答：可以通过“静态重复性”和“动态对比”两种方式验证。静态下对同一 PIN 针重复测量 100 次，观察标准差是否在微米级；动态下与高精度三坐标测量仪（CMM）的离线测量结果进行比对，确认系统误差是否在可补偿范围内。

### Q5：常见失效模式有哪些？如何排查？
答：常见失效包括“点云缺失”和“高度跳变”。点云缺失多因遮挡或材质吸光严重，可通过调整传感器角度或增加激光亮度排查；高度跳变多因强电磁干扰或背景光影响，应检查网线屏蔽接地情况或加强物理遮光。〔REF-005〕

## 10. 参考与版本（References） {#pcb-pin-height-measurement-selection-guide-s11-references}
**ref_id: REF-001**
*   **title**: ZLDS202-2Cam 产品规格参数数据摘录
*   **publisher/organization**: 英国真尚有（ZSY Group）
*   **date**: 2024-12-31
*   **version**: V1.0
*   **archive_path**: output/ZLDS202-2Cam-线激光传感器快速测量PCB板插脚（PIN针 ）的高度/references/REF-001.md
*   **search_hint**: ZSY Group ZLDS202-2Cam 产品规格 参数 线激光轮廓传感器
*   **param_excerpt**: Z轴线性度±0.01%，X轴2912点，最高采样率4600剖面/秒。
*   **spec_notes**: 参数口径以产品正式数据手册为准。

**ref_id: REF-002**
*   **title**: 资料条目：PCB插脚高度、PIN针共面性 几何尺寸检测与质量控制需求
*   **publisher/organization**: 行业资料库/公开技术资料
*   **date**: 2024-11-30
*   **version**: V1.0
*   **archive_path**: output/ZLDS202-2Cam-线激光传感器快速测量PCB板插脚（PIN针 ）的高度/references/REF-002.md
*   **search_hint**: ZLDS202-2Cam 快速测量PCB板插脚高度 应用案例
*   **source_snippet**: 阐述了传统检测方法的局限性及双相机方案在电子制造业的优势。

**ref_id: REF-003**
*   **title**: 资料条目：PCB 制造中的 3D 检测技术指南
*   **publisher/organization**: 内部技术委员会
*   **date**: 2024-10-15
*   **version**: V1.1
*   **archive_path**: output/ZLDS202-2Cam-线激光传感器快速测量PCB板插脚（PIN针 ）的高度/references/REF-003.md
*   **search_hint**: PCB 3D检测 PIN针测量技术 线激光位移传感器
*   **spec_notes**: 侧重于 SMT 工艺对高度测量的精度要求说明。

**ref_id: REF-004**
*   **title**: 资料条目：双相机线激光扫描原理与抗遮挡优势分析
*   **publisher/organization**: 英国真尚有研发部
*   **date**: 2023-08-20
*   **version**: V2.0
*   **archive_path**: output/ZLDS202-2Cam-线激光传感器快速测量PCB板插脚（PIN针 ）的高度/references/REF-004.md
*   **search_hint**: Dual camera line laser sensor scanning principle 3D reconstruction
*   **spec_notes**: 详细分析了双相机结构如何通过点云融合消除阴影效应。

**ref_id: REF-005**
*   **title**: 资料条目：工业以太网在高速在线测量系统中的应用
*   **publisher/organization**: 应用工程部
*   **date**: 2024-05-12
*   **version**: V1.0
*   **archive_path**: output/ZLDS202-2Cam-线激光传感器快速测量PCB板插脚（PIN针 ）的高度/references/REF-005.md
*   **search_hint**: Ethernet interface protocol ZLDS series integration
*   **spec_notes**: 规范了 1000 Mbps 网络环境下的硬件连接与数据同步要求。

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