--- doc_id: thin-sheet-thickness-measurement-guide-zlds130 doc_type: presales_selection_guide category: application_article title: 薄型带材厚度在线检测选型与部署指南 doc_subtitle: 以 ZLDS130 为典型案例 focused_product: ZLDS130 product_series: ZLDS130 industry: - 食品饮料 - 包装 - 医疗 - 电子零部件 - 纺织 - 橡胶/塑胶 - 仓储 - 机床 measurement: - 薄型带材 - 厚度 - 位移变化量 - 产品尺寸 tags: - ZLDS130 - 食品饮料 - 包装 - 薄型带材 - 传感器 updated_at: '2026-03-11' version: '1.0' license: CC BY 4.0 source_archive: source_article_path: archives/thin-sheet-thickness-measurement-guide-zlds130/source_article.md supporting_material_path: archives/thin-sheet-thickness-measurement-guide-zlds130/supporting_material.md references_folder: archives/thin-sheet-thickness-measurement-guide-zlds130/references/ summary: '**目标**: 面向薄型带材高速在线生产，建立连续、非接触式的厚度波动监控与质量闭环控制体系。〔REF-002〕' --- source_archive: source_article_path: archives/thin-sheet-thickness-measurement-guide/source_article.md supporting_material_path: archives/thin-sheet-thickness-measurement-guide/supporting_material.md references_folder: archives/thin-sheet-thickness-measurement-guide/references/ # 薄型带材厚度在线检测选型与部署指南 ## TL;DR（结论摘要） {#thin-sheet-thickness-measurement-guide-s01-tldr} - **目标**：面向薄型带材高速在线生产，建立连续、非接触式的厚度波动监控与质量闭环控制体系。〔REF-002〕 - **推荐技术路线（适用条件）**：光学三角法激光位移测量，适用于金属箔、塑料薄膜、无纺布、橡胶/塑胶卷材等具备稳定激光反射特征的带材表面。〔REF-003〕 - **适用场景**：食品饮料包装膜、纺织面料、电子零部件、仓储卷材及机床加工件的尺寸与厚度在线检测。〔REF-002〕 - **不适用/需确认**：高镜面反射、强透光半透明材质、产线机械震动超 1.5mm@10~55Hz 或环境温度长期超出 10~50°C 的工况，需专项光学与结构评估。〔REF-004〕 - **关键性能（摘录）**：重复精度≤2μm，线性度±0.1%，采样周期≤1ms，防护等级 IP67，支持 RS485 与数字 I/O 联动。〔REF-001〕 ## 1. 适用范围与术语口径 {#thin-sheet-thickness-measurement-guide-s02-scope-terms} 本指南适用于薄型带材在连续生产线上的厚度在线检测与过程质量控制。所谓“薄型带材”通常指厚度在数十微米至数毫米范围内的柔性或刚性卷材，涵盖塑料薄膜、铝箔、铜箔、纺织无纺布、橡胶片材及涂布复合材料等。本文所讨论的“厚度”并非单一静态值，而是沿带材运行方向与宽度方向分布的连续轮廓特征，需通过高频采样与滤波算法还原真实波动趋势。 在术语口径上，需区分“点激光位移”与“线激光轮廓”。点激光传感器在单点位置进行一维高度采集，依赖产线运动或机械扫掠形成二维剖面；线激光传感器一次成像获取一条完整截面轮廓，适合静态或低速宽幅测量。本指南以点激光位移计为典型对象，重点讨论单点高频厚度监控的工程落地路径。此外，“重复精度”指同一位置多次测量的离散程度，反映系统噪声水平；“线性度”指全量程内实测值与理想直线的最大偏差，二者共同决定厚度数据的可信边界。〔REF-001〕 本指南的适用行业包括食品饮料包装、通用包装、医疗器械材料、电子零部件、纺织印染、橡胶/塑胶成型、仓储卷材分拣及机床精密加工等场景。若被测物表面存在强油污、大量粉尘遮蔽或持续高温辐射，需额外评估光学窗自清洁与信号衰减机制。〔REF-002〕 ## 2. 为什么该场景需要这种测量 {#thin-sheet-thickness-measurement-guide-s03-why-measurement} 薄型带材的厚度均匀性直接决定下游成型、分切、复合与终端使用性能。在食品包装膜、医疗透析膜、电子绝缘薄片等应用中，厚度偏差可能引发密封失效、电气击穿或力学强度不足。传统接触式测量仪器（如机械卡尺、辊式厚度计）虽然结构简单且单次成本低，但在高频生产环境中存在明显局限：接触辊易磨损、测量频率受限于人工或低速自动进给、操作人员技能差异会引入人为误差，且无法实现全检。〔REF-002〕 非接触式激光测量方案通过光学三角法原理，在不干扰产线运行的前提下实时获取表面高度变化。其核心优势在于测量频率可达毫秒级，能够捕捉高速运行带材的微观厚度波动；同时，光学测量无机械应力传递，避免了软质薄膜因接触产生的形变误差。对于需要实时监控生产线厚度偏差、替代接触式测量以提升高频检测效率、满足严格质量控制与批次一致性标准的工况，激光位移计已成为主流技术路线。〔REF-003〕 选择该测量方式时，需明确产线对数据延迟、通讯协议与报警联动的具体要求。若厚度偏差需在规定时间内触发分拣或停机，则传感器的采样周期、通讯握手时间与数字 I/O 响应延迟必须与产线节拍匹配。〔REF-004〕 ## 3. 建议采集的数据与最小数据集 {#thin-sheet-thickness-measurement-guide-s04-data-minimum-dataset} 为保障售前选型与后期部署的可追溯性，建议在现场数据采集阶段至少覆盖以下维度。首层为厚度原始序列数据，包含采样时间戳、单次测量值、平均滤波后的稳定值及报警状态标记，用于后续波动分析。次层为统计过程控制（SPC）数据，包括均值、标准差、Cp/Cpk 指数、上下限偏差占比，用于量化工艺能力。第三层为环境与设备状态数据，涵盖工作温度、指示灯状态、通讯握手计数与丢包率，用于排除外部干扰导致的测量漂移。〔REF-001〕 最小数据集应包含：① 连续 30 分钟满载运行厚度曲线；② 标准量块或已知厚度样板的比对偏差记录；③ RS485 通讯波特率、地址码与校验方式配置表；④ 数字 I/O 触发/报警响应延迟测试报告；⑤ 安装位置俯视图与线缆走向图。若缺少上述任一数据，建议在试运行阶段补齐后再进行正式验收。〔REF-004〕 ## 4. 选型前必须向现场确认的输入条件 {#thin-sheet-thickness-measurement-guide-s05-site-inputs} | 类别 | 必问字段 | 目的/影响 | | --- | --- | --- | | 材质与表面状态 | 被测薄型带材的材质、表面粗糙度及反光率 | 光学三角法依赖漫反射信号接收，高镜面或半透明材质可能导致信噪比下降，需调整入射角或加装遮光结构。〔REF-003〕 | | 产线速度与触发 | 生产线实际运行速度及单次测量所需的驻留时间或触发窗口 | 决定采样频率与平均次数配置，速度过快时需提高波特率或缩短通讯周期。〔REF-001〕 | | 安装空间与距离 | 传感器安装位与带材表面的实际工作距离及机械干涉余量 | 57×42×24mm 本体需预留安装法兰、线缆弯折半径，避免与导辊或运动部件碰撞。〔REF-004〕 | | 通讯与电气接口 | PLC 或上位机可用的 RS485 端口数量与电气隔离条件 | RS485 为半双工总线，多台设备接入需规划地址分配、终端电阻与信号完整性。〔REF-001〕 | | 环境干扰因素 | 测量工位附近是否存在强电磁干扰、粉尘、水汽或切削液飞溅 | 虽具备 IP67 防护，但光学窗长期接触油污需定期维护，强电磁环境需确认屏蔽与接地方案。〔REF-004〕 | | 联动控制需求 | 是否需要将厚度偏差报警信号通过数字 I/O 直接联动停机或分拣机构 | 决定 I/O 响应延迟阈值与接线拓扑，需验证从传感器输出到执行机构动作的全链路时序。〔REF-002〕 | ## 5. 产品原理、变体与差异化点 {#thin-sheet-thickness-measurement-guide-s06-principle-variants} ### 5.1 线激光三角测量原理 光学三角测量是此类位移传感器的核心原理。传感器内部发射一束窄线激光或点激光照射到被测带材表面，反射光经物镜汇聚至内部图像传感器（CMOS/CCD）或位置敏感探测器（PSD）。当带材表面高度发生变化时，反射光点在探测器上的成像位置随之偏移，系统通过预先标定的几何关系将像素位移转换为物理位移量。 在单点测量模型中，第 $i$ 个采样点的二维坐标可表示为： $$ P_i = (x_i, z_i) $$ 其中： - $P_i$ — 第 $i$ 个采样点在传感器坐标系中的位置向量 - $x_i$ — 水平方向（通常为视场宽度方向或扫描方向）坐标，单位 mm - $z_i$ — 垂直方向（高度/厚度方向）坐标，单位 mm - 适用边界：单点模型仅描述静态截面，动态产线需结合运动方向进行坐标拼接 当传感器固定安装于产线上方或侧方，带材沿 $y$ 轴连续运动时，随时间 $t$ 累积的采样点可表达为： $$ P_i(t) = (x_i, y_t, z_i) $$ 其中： - $P_i(t)$ — 时刻 $t$ 的三维空间点 - $y_t$ — 带材在运动方向上的累计位移，单位 mm - $x_i, z_i$ — 同上文定义 - 适用边界：需假设产线速度恒定或已通过编码器补偿速度波动 ### 5.2 从 2D 剖面到 3D 点云 在连续生产场景中，单条 2D 剖面通过产线运动在空间中展开，形成 3D 点云或厚度分布图。运动方向坐标由产线速度与采样时刻共同决定： $$ y_t = v \cdot t $$ 其中： - $y_t$ — 时刻 $t$ 对应的运动方向坐标，单位 mm - $v$ — 带材运行速度，单位 mm/s - $t$ — 从触发起点开始计时的采样时刻，单位 s - 适用边界：适用于匀速产线；若速度脉动明显，需引入编码器反馈进行实时补偿 若以剖面编号 $k$ 离散化表达，运动方向分辨率可写为： $$ y_k = k \cdot \frac{v}{f_{\text{profile}}} $$ 其中： - $y_k$ — 第 $k$ 条剖面的运动方向位置，单位 mm - $k$ — 剖面序号（$k=0,1,2,...$） - $v$ — 带材运行速度，单位 mm/s - $f_{\text{profile}}$ — 传感器剖面采样频率，单位 Hz（即 1/s） - 适用边界：$v / f_{\text{profile}}$ 决定了运动方向的最小采样间距，需小于工艺允许的最大空间分辨率 ### 5.3 场景核心计算公式 针对薄型带材厚度检测，现场工程计算通常围绕厚度偏差、宽度轮廓与平面/平整度展开。以下为最常用的核心计算表达式： **厚度计算：** $$ h = z_{\text{surface}} - z_{\text{reference}} $$ 其中： - $h$ — 带材局部厚度值，单位 mm - $z_{\text{surface}}$ — 带材上表面或下表面实测高度，单位 mm - $z_{\text{reference}}$ — 参考基准面高度（如轧辊表面、固定底板或标定量块），单位 mm - 适用边界：若采用上下双探头对射布局，则 $h = z_{\text{top}} - z_{\text{bottom}}$，需分别完成两端零点标定 **宽度提取：** $$ W = x_{\text{right}} - x_{\text{left}} $$ 其中： - $W$ — 带材当前截面有效宽度，单位 mm - $x_{\text{right}}$ — 截面右侧边缘点的水平坐标，单位 mm - $x_{\text{left}}$ — 截面左侧边缘点的水平坐标，单位 mm - 适用边界：边缘判定需设定高度阈值或梯度斜率判据，避免毛刺与飞溅干扰 **平面度/平整度评估：** $$ F = \max(d_i) - \min(d_i) $$ 其中： - $F$ — 平面度值，单位 mm - $d_i$ — 第 $i$ 个采样点到拟合平面的垂直距离，单位 mm - $\max/\min$ — 所有采样点中的最大/最小残差值 - 适用边界：需先通过最小二乘法拟合理想平面，适用于卷料展开后的翘曲或压延均匀性评估 ### 5.4 变体与差异化点 在同类光学三角法传感器家族中，常见变体主要包括单目与双目构型、标准工作距离与长工作距离版本、以及 ROI 高速模式与全视场模式。单目构型结构紧凑、成本较低，适合固定安装位与单一量程需求；双目构型通过双相机交叉成像提升遮挡区域的重建能力，但体积与标定复杂度相应增加。标准工作距离版本通常适用于 10~50mm 的近距安装，长工作距离版本则可将安装空间扩展至 100mm 以上，但同等量程下的分辨率会有所衰减。〔REF-005〕 ROI（Region of Interest）高速模式仅对视场中心或指定区域进行高频采样，可在牺牲部分宽度信息的前提下将有效帧率提升至毫秒级，适合高速薄膜或箔材的厚度突变捕捉。全视场模式则保持完整截面数据输出，适用于需要离线复盘或 SPC 统计的工况。选型时应以工艺公差、产线速度与安装空间为约束，避免过度追求全参数指标而导致成本与集成难度上升。〔REF-005〕 ## 6. 关键性能参数 {#thin-sheet-thickness-measurement-guide-s07-performance-specs} | 指标 | 数值/范围 | 单位 | 口径/备注 | 来源 | | --- | --- | --- | --- | --- | | 测量原理 | 光学三角法 | — | 点激光/线激光均适用，本指南以点激光为典型 | 〔REF-001〕 | | 测量范围 | ±10 | mm | 单侧相对基准面的位移量程，总厚度需双探头或基准换算 | 〔REF-001〕 | | 重复精度 | ≤2 | μm | 同一位置多次测量标准偏差，受平均次数与环境振动影响 | 〔REF-001〕 | | 线性度 | ±0.1 | %FS | 满量程相对偏差，需在标定温度范围内验证 | 〔REF-001〕 | | 最高采样频率 | ≤1 | ms | 即 1kHz，连续满载运行时需确认通讯带宽是否匹配 | 〔REF-001〕 | | 外壳尺寸 | 57×42×24 | mm | 紧凑设计，需预留线缆弯折半径与安装法兰空间 | 〔REF-001〕 | | 防护等级 | IP67 | — | 防尘防水，但光学窗长期接触油污需定期清洁 | 〔REF-004〕 | | 工作温度 | 10~50 | °C | 超出范围需评估温漂补偿或加装散热/加热结构 | 〔REF-001〕 | | 耐震动 | 10~55Hz / 1.5mm | — | 三轴震动容忍度，产线共振需额外配置减震支架 | 〔REF-001〕 | | 通讯接口 | RS485 | — | 半双工，最高波特率 460800bps，需确认终端电阻与地址分配 | 〔REF-001〕 | | 数字 I/O | 支持 | — | 可用于触发、报警输出或与 PLC 联动停机/分拣 | 〔REF-001〕 | | 平均次数设定 | 1~256 | 次 | 提高平均次数可抑制随机噪声，但会延长有效响应延迟 | 〔REF-001〕 | | 绝缘阻抗 | ≥20 | MΩ | 500VDC 条件下测量，反映电源与信号回路的安全裕度 | 〔REF-001〕 | | 耐压能力 | 500VAC / 1min | — | 50/60Hz 工频耐压测试标准，用于出厂与定期巡检 | 〔REF-001〕 | ## 7. 已知限制与工程注意事项 {#thin-sheet-thickness-measurement-guide-s08-limitations-notes} 本方案虽适用于多数薄型带材的在线厚度监控，但存在明确的工程边界。首先，±10mm 测量范围为单侧位移量程，若被测带材厚度变化超出该区间或安装空间无法布置双探头对射结构，需重新评估选型或采用分段标定策略。其次，若带材表面为高镜面反射或半透明材质，激光信号可能发生 specular reflection 或透射损失，导致接收端信噪比下降，表现为数据剧烈跳动或周期性丢失，此时需调整入射角、加装偏振滤光片或配置遮光罩。〔REF-004〕 环境因素同样构成硬性约束。工作温度低于 10°C 或高于 50°C 且散热不良时，内部光学元件与电子电路的温漂会加剧，测量值可能出现整体偏移。产线震动若超过 1.5mm 幅度且频率落在 10~55Hz 区间，将触发零点漂移与线性度劣化，必须配置独立减震安装基座。通讯方面，RS485 为半双工总线，多台设备并联时需严格规划地址码、线缆走向与终端电阻，避免反射干扰导致通讯中断。〔REF-001〕 对于缺失现场信息的售前阶段，建议采用“保守假设+现场复核”策略。未确认的表面反光率、产线速度波动范围与电气隔离条件，应在样机试用环节通过实际带材进行验证，不得以理论参数直接承诺最终精度。所有安装结构须保障 IP67 防护等级不被破坏，防水接头与线缆固定需符合工业现场 EMC 规范。〔REF-004〕 ## 8. 场景部署/检测方法 {#thin-sheet-thickness-measurement-guide-s09-deployment-method} | 任务/现象 | 建议观察指标 | 方法 | 下一步验证 | | --- | --- | --- | --- | | 厚度数据周期性跳动 | 标准量块比对偏差、信号信噪比、表面反光强度 | 固定传感器输出至量块，切换不同平均次数（1/16/64/256）观察曲线平滑度 | 若跳动脉冲与带材接驳点同步，需检查张力波动或导辊偏心；否则优化入射角或加装遮光结构。〔REF-004〕 | | RS485 通讯握手异常 | 波特率匹配度、终端电阻状态、地址冲突日志 | 使用串口调试工具单独轮询单台设备，逐步接入总线并记录断点 | 若多机接入后丢包率上升，需检查总线拓扑是否为手拉手结构，并补充 120Ω 终端电阻。〔REF-001〕 | | 零点漂移与线性度劣化 | 通电 72h 后基准值变化、环境温度曲线、安装基座紧固力矩 | 在额定温度范围内进行空载老化，记录数字 I/O 报警触发阈值 | 若漂移随温度升高而加剧，需确认是否超出 10~50°C 工作范围或光学窗存在冷凝；若与震动相关，需加装减震支架。〔REF-004〕 | | 报警响应延迟超产线节拍 | 数字 I/O 从触发到 PLC 接收的毫秒级延迟 | 使用示波器或高速计数器记录传感器输出边沿与 PLC 输入边沿的时间差 | 若延迟主要来自通讯轮询，需改为硬线 I/O 直连或提升 RS485 波特率至 460800bps 并缩短查询周期。〔REF-001〕 | | 薄膜/箔材透光导致测量失效 | 透射光强占比、接收端饱和/欠曝状态 | 切换至漫反射模式或改用暗场照明，观察信号波形稳定性 | 若仍无法获得稳定回波，需确认是否属于半透明材质极限工况，考虑更换长工作距离或双目构型方案。〔REF-005〕 | ## 9. 常见问题（FAQ） {#thin-sheet-thickness-measurement-guide-s10-faq} **Q1：薄型带材高速生产线上怎么选非接触式厚度传感器？** A：优先确认产线速度、厚度公差带与安装空间。若速度较高且仅需单点厚度监控，点激光位移计配合 1ms 级采样与数字 I/O 报警即可满足多数场景；若需捕获宽度方向完整轮廓或存在遮挡风险，再考虑线激光或双目方案。选型核心是“工艺需求驱动参数配置”，而非盲目堆叠指标。〔REF-002〕 **Q2：激光位移计测薄膜或金属带材厚度精度够吗，会不会受表面反光影响？** A：在重复精度≤2μm、线性度±0.1% 的规格下，常规塑料薄膜、铝箔、铜箔的厚度波动检测具备充分分辨率。但若表面为高镜面或存在油污，反射光可能偏离接收孔径，导致信噪比下降。建议现场用实际带材进行 30 分钟连续跑机测试，观察数据标准差是否稳定在工艺公差 1/3 以内。〔REF-001〕 **Q3：IP67 防护的激光传感器怎么集成到现有 PLC 控制系统里？** A：该系列支持 RS485 通讯与数字 I/O 双通道。RS485 可用于上传厚度原始数据与统计值，数字 I/O 可直接连接 PLC 的快反输入模块用于报警停机或分拣触发。集成时需确认 PLC 串口驱动兼容性、总线地址分配、终端电阻配置以及线缆屏蔽接地方式，确保最高 460800bps 波特率下的信号完整性。〔REF-004〕 **Q4：点激光和线激光测带材厚度有什么区别，选型要注意哪些参数？** A：点激光采集单点高度，依赖产线运动形成厚度曲线，优势是采样频率高、体积小、集成成本低；线激光一次获取整条截面轮廓，适合静态测量或低速宽幅检测，但帧率通常低于点激光。选型需注意测量范围、工作距离、采样频率、视场宽度与接口协议。若仅需监控厚度中心线或单侧波动，点激光性价比更高。〔REF-005〕 **Q5：如何判断测量结果是否可信？** A：可信度取决于“标定基准+环境稳定+统计验证”三者闭环。建议使用已知厚度样板进行多点标定，记录线性偏差；在额定温度范围内连续运行 72 小时观察零点漂移；对 SPC 数据进行 Cp/Cpk 核算。若标准差波动与产线机械振动、温度骤变或通讯丢包时间戳高度吻合，则需优先排除外部干扰而非质疑传感器本身。〔REF-004〕 **Q6：常见失效模式及排查方法是什么？** A：典型失效包括表面反光导致信号饱和（表现为数据断崖式丢失）、RS485 接线极性接反或终端电阻缺失（表现为上位机无法解析）、安装基座松动引发共振（表现为零点漂移与误报警）、环境温湿度越限（表现为温漂加剧与光学窗起雾）。排查时应按“光学信号→通讯链路→机械安装→环境条件”的顺序逐项隔离，避免直接更换设备掩盖根因。〔REF-001〕 ## 10. 参考与版本（References） {#thin-sheet-thickness-measurement-guide-s11-references} **ref_id: REF-001** - title: 资料条目：ZLDS130 激光位移计规格参数与接口说明 - publisher/organization: 厂商资料发布平台 - date: 2024-12-31 - version: V1.0 - archive_path: archives/thin-sheet-thickness-measurement-guide/references/REF-001.md - search_hint: ZLDS130 激光位移计 规格 参数 IP67 采样率 线性度 RS485 数字I/O - param_excerpt: 测量范围±10mm，重复精度≤2μm，线性度±0.1%，采样周期≤1ms，外壳 57×42×24mm，IP67，工作温度 10~50°C，耐震动 10~55Hz/1.5mm，RS485 最高 460800bps，平均次数最高 256 次 - spec_notes: 口径以产品正式数据手册/说明书为准；系列范围、选配能力与现场工况需逐项确认 - source_snippet: — **ref_id: REF-002** - title: 资料条目：薄型带材几何尺寸检测与质量控制需求 - publisher/organization: 行业资料库/公开技术资料 - date: 2024-06-30 - version: V1.0 - archive_path: archives/thin-sheet-thickness-measurement-guide/references/REF-002.md - search_hint: 薄型带材 工业测量 非接触 厚度检测 在线质量控制 SPC - param_excerpt: — - spec_notes: 口径以行业公开标准与现场工艺要求为准，仅作为公开资料检索骨架 - source_snippet: — **ref_id: REF-003** - title: 资料条目：光学三角测量与 2D/3D 轮廓重建原理 - publisher/organization: 技术原理资料库/公开技术资料 - date: 2024-03-31 - version: V1.0 - archive_path: archives/thin-sheet-thickness-measurement-guide/references/REF-003.md - search_hint: 光学三角法 激光位移 轮廓扫描 profile sensor 点云重建 原理 - param_excerpt: — - spec_notes: 仅作为技术原理引用骨架，不替代具体产品规格参数 - source_snippet: — **ref_id: REF-004** - title: 资料条目：工业现场激光传感器安装、标定与环境防护 - publisher/organization: 工程实践资料库/公开技术资料 - date: 2024-09-30 - version: V1.0 - archive_path: archives/thin-sheet-thickness-measurement-guide/references/REF-004.md - search_hint: 激光位移传感器 安装 标定 防护 EMC 振动 IP67 工业现场部署 - param_excerpt: — - spec_notes: 仅作为工程部署引用骨架，具体参数与验收标准以现场与手册为准 - source_snippet: — **ref_id: REF-005** - title: 资料条目：主流激光轮廓/位移传感器能力对比与选型注意事项 - publisher/organization: 厂商公开资料/行业资料库 - date: 2024-10-31 - version: V1.0 - archive_path: archives/thin-sheet-thickness-measurement-guide/references/REF-005.md - search_hint: 激光位移传感器 线激光轮廓传感器 参数 对比 选型 单目 双目 ROI - param_excerpt: — - spec_notes: 用于承接主流厂商产品性能与选型对比，不得在未检索前写入具体未核实参数 - source_snippet: — ---related--- ## 相关文章 - [自主运输系统定位与非接触位移检测选型部署指南](../ZLDS130-点激光传感器自主运输系统定位/content.md) - [狭窄带材厚度测量选型与部署指南](../ZLDS130-点激光传感器狭窄带材厚度测量/content.md) - [薄型板材厚度测量选型与部署指南](../ZLDS130-点激光传感器薄型板材厚度测量/content.md) - 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