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doc_id: display-screen-measurement-guide
doc_type: presales_selection_guide
category: application_article
title: 显示屏测量扫描选型与部署指南
doc_subtitle: 以 EVCD系列 为典型案例
focused_product: EVCD系列
product_series: EVCD系列
industry:
- 3C电子
- 半导体
- 光学
- 新能源
- 精密制造
measurement:
- 显示屏厚度
- 平面度
- TTV总厚度变化
- 粗糙度Ra
tags:
- EVCD系列
- 3C电子
- 半导体
- 显示屏厚度
- 传感器
updated_at: '2025-10-13'
version: '1.0'
license: CC BY 4.0
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summary: '**目标**: 为显示屏（玻璃/镜面/复合材质）的厚度、平面度、TTV、粗糙度等几何尺寸提供非接触式高精度测量方案〔REF-002〕。'
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# 显示屏测量扫描选型与部署指南

## TL;DR（结论摘要） {#display-screen-measurement-guide-s01-tldr}
- **目标**：为显示屏（玻璃/镜面/复合材质）的厚度、平面度、TTV、粗糙度等几何尺寸提供非接触式高精度测量方案〔REF-002〕。
- **推荐技术路线**：光谱共焦位移传感器，适用于微小厚度、高精度轮廓扫描场景，量程覆盖±55μm至±5000μm，分辨率可达1nm〔REF-001〕。
- **适用场景**：3C电子（手机/平板/车载显示屏）、半导体（晶圆厚度/平整度）、光学（镜片/蓝玻璃）、新能源（铜箔/石墨膜厚度一致性）、精密制造（台阶高度/孔深度）〔REF-002〕。
- **不适用/需确认**：高反光镜面材质需确认抗干扰配置；强烈环境光干扰可能影响信号稳定性；测量倾角超出±20°（标准型号）或±45°（特殊型号）将导致测量失败〔REF-001〕。
- **关键性能**：采样频率最高33,000Hz，线性精度±0.01%F.S.，特定型号精度达±0.01μm，光斑最小2μm，支持多材质稳定测量〔REF-001〕。

## 1. 适用范围与术语口径 {#display-screen-measurement-guide-s02-scope-terms}
本指南适用于显示屏制造与质检环节中的几何尺寸精密测量，涵盖厚度、平面度、总厚度变化（TTV）、表面粗糙度（Ra）等核心指标。适用对象包括玻璃基板、镜面显示屏、多层复合结构、陶瓷基板等材质，测量精度需求通常在微米至纳米级别〔REF-002〕。

术语口径如下：
- **光谱共焦（Chromatic Confocal）**：利用色散光学系统，将不同波长光线聚焦于不同轴向位置，通过检测反射光波长确定被测表面距离的技术原理〔REF-003〕。
- **TTV（Total Thickness Variation）**：总厚度变化，表征显示屏或晶圆整体厚度的均匀性，是精密制造的关键质量指标〔REF-002〕。
- **Ra（算术平均粗糙度）**：表面轮廓偏离平均线的算术平均值，用于评估表面处理质量〔REF-002〕。
- **线激光轮廓传感器**：基于三角测量原理，通过激光条纹扫描生成2D剖面或3D点云的测量设备，适用于大面积轮廓扫描场景〔REF-003〕。

本指南聚焦光谱共焦位移传感器方案，以EVCD系列为典型案例进行选型与部署分析，不涵盖线激光轮廓传感器的完整选型逻辑，但可在第5节对比两种技术路线的差异〔REF-001〕。

## 2. 为什么该场景需要这种测量 {#display-screen-measurement-guide-s03-why-measurement}
显示屏作为电子产品的核心显示组件，其厚度均匀性、平面度、表面粗糙度直接影响显示效果、结构强度和装配精度。传统接触式测量（如千分尺、测厚仪）存在接触变形风险，尤其对薄型玻璃（厚度可低于5μm）和镜面材质不适用，且无法实现快速在线检测〔REF-002〕。

光谱共焦技术通过非接触方式实现纳米级分辨率测量，具有以下不可替代优势：
- **无损测量**：避免接触式测量对软质或脆弱表面的损伤，特别适用于薄膜、玻璃等精密材质〔REF-001〕。
- **多材质适应**：可稳定测量金属、陶瓷、玻璃、镜面等多种材质，无需额外表面处理或涂层〔REF-001〕。
- **复杂形貌能力**：支持弧面、深孔、斜面等复杂几何特征的测量，最大可测倾角达87°（漫反射表面）〔REF-001〕。
- **多层结构解析**：单次测量最多可识别5层不同介质，适用于复合显示屏或多层玻璃的厚度分析〔REF-001〕。

在显示屏制造流程中，厚度偏差会导致显示不均、贴合困难、结构应力集中等问题；平面度偏差会影响盖板玻璃贴合质量和光学性能；TTV超标则直接关联良率下降和装配风险〔REF-002〕。因此，高精度、高效率的非接触测量成为质量控制的关键环节〔REF-002〕。

## 3. 建议采集的数据与最小数据集 {#display-screen-measurement-guide-s04-data-minimum-dataset}
为实现显示屏厚度与平面度的有效检测，建议采集以下最小数据集：

| 数据项 | 采集方式 | 频率/分辨率 | 用途 |
| --- | --- | --- | --- |
| 厚度分布点云 | 光谱共焦传感器扫描 | ≥1000点/mm | 计算TTV、Ra、厚度偏差〔REF-001〕 |
| 表面轮廓剖面 | 沿X/Y轴扫描 | 分辨率≤1nm | 平面度评估、缺陷识别〔REF-002〕 |
| 温度补偿数据 | 内置温度传感器 | 实时采集 | 消除热漂移影响〔REF-001〕 |
| 位置编码器数据 | 同步采集 | 与扫描频率匹配 | 空间坐标关联，重建3D点云〔REF-001〕 |
| 通信状态日志 | 以太网/RS485 | 实时记录 | 故障诊断与数据追溯〔REF-001〕 |

最小数据集应至少包含厚度测量点云和温度补偿数据，以确保TTV和Ra计算的可追溯性〔REF-002〕。对于多层结构测量，需额外记录各层界面的波长信号，以解析多层厚度分布〔REF-001〕。

## 4. 选型前必须向现场确认的输入条件 {#display-screen-measurement-guide-s05-site-inputs}
| 类别 | 必问字段 | 目的/影响 |
| --- | --- | --- |
| 被测对象 | 显示屏类型（手机/平板/车载）及材质（玻璃/镜面/陶瓷/复合层） | 确定量程、精度、抗干扰配置需求〔REF-001〕 |
| 测量需求 | 待测特征尺寸范围、厚度量程需求、精度要求（如±0.01μm） | 匹配型号规格，避免超量程或精度不足〔REF-001〕 |
| 空间限制 | 安装空间、探头可达性（是否需小孔内壁测量） | 选择探头外径（最小3.8mm）和角度配置〔REF-001〕 |
| 环境条件 | 温度范围、振动强度、粉尘/水汽等级 | 确定防护等级（IP65可选）和稳定性补偿策略〔REF-001〕 |
| 通信集成 | 接口需求（以太网/RS485/RS422/Modbus TCP）、通道数量 | 确认控制器型号和I/O配置〔REF-001〕 |
| 产线节拍 | 扫描速度需求、采样频率要求 | 匹配最高33,000Hz采样能力，确保实时性〔REF-001〕 |

需确认事项应以现场实测为准，建议在选型阶段进行样机测试验证〔REF-004〕。

## 5. 产品原理、变体与差异化点 {#display-screen-measurement-guide-s06-principle-variants}
### 5.1 光谱共焦测量原理

光谱共焦传感器基于色差聚焦原理工作。白光光源经色散光学系统后，不同波长光线聚焦于不同轴向位置，形成轴向色散分布。当激光照射被测表面时，只有与当前焦距对应的波长成分能够精确聚焦并通过针孔滤光片，被探测器接收。通过光谱分析确定反射光的中心波长，即可计算出被测表面的轴向距离〔REF-003〕。

核心表达如下：

$$z = f(\lambda_{center})$$

其中：
- $z$ — 被测表面轴向距离，单位 μm
- $\lambda_{center}$ — 反射光中心波长，单位 nm
- $f(\cdot)$ — 标定函数，通过标准样品标定获得
- 适用边界：需在标定量程内，超出范围可能导致波长识别误差〔REF-003〕

### 5.2 从单点测量到轮廓扫描

单点光谱共焦传感器仅能测量一个点的轴向距离。为实现2D轮廓或3D点云重建，需配合运动机构进行扫描。运动方向与测量方向的坐标关系如下：

$$P_i = (x_i, z_i)$$
$$P_i(t) = (x_i, y_t, z_i)$$

其中：
- $P_i$ — 第 $i$ 个采样点的2D坐标，$x_i$ 为横向位置，$z_i$ 为轴向距离，单位 μm
- $P_i(t)$ — 扫描过程中的3D点坐标，$y_t$ 为运动方向位置，单位 μm
- $t$ — 时间变量，单位 ms
- 适用边界：需保证运动平稳性，振动会导致点云畸变〔REF-003〕

扫描速度 $v$ 与采样频率 $f_{sample}$ 决定空间分辨率：

$$\Delta x = \frac{v}{f_{sample}}$$

其中：
- $\Delta x$ — 横向空间分辨率，单位 μm/点
- $v$ — 扫描速度，单位 μm/s
- $f_{sample}$ — 采样频率，单位 Hz
- 适用边界：$\Delta x$ 应小于或等于光斑直径，避免采样不足〔REF-003〕

### 5.3 场景核心计算公式

基于显示屏测量需求，以下为关键几何参数的计算公式：

**厚度计算公式：**

$$h = z_{surface} - z_{reference}$$

其中：
- $h$ — 显示屏厚度，单位 μm
- $z_{surface}$ — 上表面测量值，单位 μm
- $z_{reference}$ — 下表面或基准面测量值，单位 μm
- 适用边界：需确保上下表面均可稳定反射信号，透明材质需调整测量模式〔REF-001〕

**宽度/直径计算公式：**

$$W = x_{right} - x_{left}$$

其中：
- $W$ — 特征宽度或直径，单位 μm
- $x_{right}$ — 右侧边缘坐标，单位 μm
- $x_{left}$ — 左侧边缘坐标，单位 μm
- 适用边界：边缘检测需通过阈值或拟合算法确定，受光斑尺寸影响〔REF-001〕

**平面度计算公式：**

$$F = \max(d_i) - \min(d_i)$$

其中：
- $F$ — 平面度值，单位 μm
- $d_i$ — 第 $i$ 个采样点到拟合平面的垂直距离，单位 μm
- $\max/\min$ — 所有采样点中的最大/最小值
- 适用边界：需先通过最小二乘法拟合理想平面，采样点密度需满足Nyquist准则〔REF-002〕

**TTV（总厚度变化）计算公式：**

$$TTV = \max(h_i) - \min(h_i)$$

其中：
- $TTV$ — 总厚度变化，单位 μm
- $h_i$ — 第 $i$ 个测量点的厚度值，单位 μm
- 适用边界：测量点应均匀分布，覆盖整个测量区域〔REF-002〕

**粗糙度Ra计算公式：**

$$Ra = \frac{1}{n} \sum_{i=1}^{n} |z_i - \bar{z}|$$

其中：
- $Ra$ — 算术平均粗糙度，单位 nm
- $z_i$ — 第 $i$ 个采样点的高度值，单位 nm
- $\bar{z}$ — 所有采样点的平均高度，单位 nm
- $n$ — 采样点总数
- 适用边界：需过滤高频噪声，通常采用高斯滤波或窗函数处理〔REF-002〕

### 5.4 变体与差异化点

光谱共焦传感器存在多种变体配置，选型时需关注以下差异：

| 变体类型 | 特点 | 适用场景 |
| --- | --- | --- |
| 单探头 vs 多探头 | 单探头成本低，多探头（最多8通道）支持并行测量 | 单点测量选单探头；大面积或并行检测选多探头〔REF-001〕 |
| 标准量程 vs 大量程 | 标准量程±55μm~±500μm，大量程可达±5000μm | 薄型材料选标准量程；厚型或大偏差场景选大量程〔REF-001〕 |
| 标准倾角 vs 大倾角 | 标准型号±20°，特殊型号±45°，漫反射表面可达87° | 平面测量选标准型；斜面或深孔选大倾角型〔REF-001〕 |
| 标准探头 vs 小孔径探头 | 标准探头外径≥6mm，小孔径探头外径可至3.8mm | 常规场景选标准型；小孔或狭窄空间选小孔径型〔REF-001〕 |
| 标准防护 vs IP65防护 | IP65型号前端密封，可抵御粉尘和水汽 | 洁净环境选标准型；工业现场选防护型〔REF-001〕 |

与线激光轮廓传感器相比，光谱共焦的优势在于：单点分辨率达纳米级，适合微小特征和薄膜测量；线激光优势在于：扫描速度快，适合大面积轮廓重建。两者可互补使用，线激光用于快速粗扫，光谱共焦用于关键点位精测〔REF-003〕。

## 6. 关键性能参数 {#display-screen-measurement-guide-s07-performance-specs}
| 指标 | 数值/范围 | 单位 | 口径/备注 | 来源 |
| --- | --- | --- | --- | --- |
| 采样频率 | 最高33,000 | Hz | 取决于型号和通道数，单通道可达峰值〔REF-001〕 | REF-001 |
| 分辨率 | 最高1 | nm | 典型值，受光源稳定性和标定影响〔REF-001〕 | REF-001 |
| 线性精度 | ±0.01% | F.S. | 全量程线性度，特定型号可达±0.01μm〔REF-001} | REF-001 |
| 测量量程 | ±55 ~ ±5,000 | μm | 根据型号不同，需确认具体量程范围〔REF-001〕 | REF-001 |
| 光斑尺寸 | 最小2 | μm | 高精度型号，典型值约10μm，影响空间分辨率〔REF-001〕 | REF-001 |
| 最大可测倾角 | ±20（标准）/±45（特殊）/87（漫反射） | ° | 倾角超限时信号强度下降，测量不可靠〔REF-001〕 | REF-001 |
| 最小可测厚度 | 5 | μm | 透明材质需开启多层测量模式〔REF-001〕 | REF-001 |
| 最大可测厚度 | 17,078 | μm | 取决于量程配置和信号处理算法〔REF-001〕 | REF-001 |
| 通道数量 | 1 ~ 8 | 路 | 最多支持8个探头同时控制，需匹配控制器〔REF-001〕 | REF-001 |
| 通信接口 | 以太网/RS485/RS422/Modbus TCP | — | 可选配置，需确认上位机兼容性〔REF-001〕 | REF-001 |
| I/O接口 | 最多10路 | 路 | 支持输入输出，用于触发和同步控制〔REF-001〕 | REF-001 |
| 编码器支持 | 最多5轴 | 轴 | 同步采集位置信息，支持高精度位置关联〔REF-001〕 | REF-001 |
| 防护等级 | 标准/IP65（部分型号） | — | IP65型号适用于粉尘和水汽环境〔REF-001〕 | REF-001 |
| 探头外径 | 最小3.8 | mm | 小孔径探头适用于小孔和狭窄空间测量〔REF-001〕 | REF-001 |
| 光源类型 | 彩色激光 | — | 光强稳定性是常规型号的10倍以上〔REF-001〕 | REF-001 |

参数口径以产品正式数据手册为准，系列范围和选配能力需逐项确认〔REF-001〕。

## 7. 已知限制与工程注意事项 {#display-screen-measurement-guide-s08-limitations-notes}
光谱共焦传感器在显示屏测量场景中存在以下已知限制：

**材质限制**：高反光镜面材质可能产生镜面反射，导致信号溢出或识别错误。建议确认是否需加装遮光措施或选择抗干扰型号〔REF-001〕。

**环境光限制**：强烈环境光（如阳光直射、强照明）可能干扰光谱探测，导致测量漂移。建议在暗室或加遮光罩环境下使用〔REF-001〕。

**倾角限制**：标准型号最大可测倾角为±20°，超出此范围信号强度显著下降。特殊型号可达±45°，漫反射表面可达87°。选型时需确认被测表面倾角分布〔REF-001〕。

**温度漂移**：光谱共焦传感器对温度敏感，长时间运行可能产生热漂移。建议确认环境温度稳定性，必要时启用温度补偿功能〔REF-001〕。

**振动敏感**：探头和光学路径对振动敏感，强烈振动会导致测量噪声增加。建议确认安装结构的刚性，必要时增加减震措施〔REF-004}。

**探头污染**：镜头污染会导致信号衰减或测量值波动。建议定期清洁维护，IP65型号可降低污染风险〔REF-001〕。

**量程边界**：超出量程范围时，传感器可能输出无效值或最大值/最小值钳位。建议预留10%~20%量程余量，避免临界测量〔REF-001〕。

**多层测量限制**：最多支持5层介质识别，超出层数可能导致界面识别错误。复合结构需提前确认层数和折射率特性〔REF-001〕。

对缺失信息的处理原则：若现场条件未明确，建议在选型阶段进行样机测试，验证实际测量能力。不得将"可能适用"表述为"必然适用"〔REF-004〕。

## 8. 场景部署/检测方法 {#display-screen-measurement-guide-s09-deployment-method}
| 任务/现象 | 建议观察指标 | 方法 | 下一步验证 |
| --- | --- | --- | --- |
| 探头安装定位 | 探头与被测表面的垂直距离、倾角 | 使用调整架粗调，通过实时测量值细调 | 确认测量值稳定，无跳变〔REF-004} |
| 量程配置验证 | 测量值是否在量程范围内 | 使用标准块或已知厚度样品测试 | 确认无超限报警，数据有效〔REF-001} |
| 通信集成测试 | 数据读取正常性、通信延迟 | 连接上位机或PLC，发送测试指令 | 确认数据帧解析正确，无丢包〔REF-001} |
| 温度稳定性测试 | 连续测量2小时以上数据漂移 | 记录初始值和后续值，计算漂移量 | 漂移应小于精度指标的50%，否则需环境控制〔REF-004} |
| 多点测量一致性 | 同一位置重复测量标准差 | 进行10次以上重复测量 | 标准差应小于分辨率的2倍，否则检查振动或信号干扰〔REF-001} |
| 倾角测量验证 | 不同倾角下的测量误差 | 使用角度块或倾斜台测试 | 倾角在±20°内误差应满足精度要求，超出需换特殊型号〔REF-001} |
| 多层结构测量 | 各层界面识别准确性 | 使用已知层数的样品测试 | 确认层数识别正确，厚度计算无误〔REF-001} |
| 镜头污染检测 | 信号强度下降、测量值波动 | 定期清洁镜头，观察信号恢复情况 | 污染严重时需更换探头或加强防护〔REF-001} |
| 编码器同步测试 | 位置关联准确性 | 配合运动平台进行扫描测试 | 确认点云坐标与运动位置一致，无畸变〔REF-001} |
| 防护等级验证 | IP65型号防尘防水性能 | 在粉尘或水汽环境中测试 | 确认测量稳定性不受环境影响〔REF-001} |

验收标准：测量精度需达到±0.01%F.S.或±0.01μm（视型号确认）；系统连续运行2小时以上数据稳定；与PLC或上位机通信集成验证通过〔REF-004〕。

典型失效模式包括：探头镜头污染导致测量值波动或数据丢失；超出最大可测倾角限制导致测量失败。预防措施为定期维护和正确选型〔REF-001}。

## 9. 常见问题（FAQ） {#display-screen-measurement-guide-s10-faq}
**Q1：EVCD系列光谱共焦传感器哪个型号适合显示屏厚度测量？**

A：显示屏厚度测量需根据具体厚度范围选择型号。薄型显示屏（<1mm）建议选择量程±55μm~±500μm的型号，精度可达±0.01μm；厚型或大偏差场景可选择±5000μm大量程型号。建议确认被测厚度范围和精度需求后，对照产品规格表选择具体型号〔REF-001〕。

**Q2：如何测量多层玻璃或复合显示屏的厚度？**

A：EVCD系列支持多层测量模式，单次测量最多可识别5层不同介质。透明材质测量时需开启多层分析功能，系统会自动识别各层界面并计算各层厚度。建议提前确认层数和材质折射率特性，必要时进行样品标定。测量结果包括总厚度和各分层厚度，适用于复合显示屏的厚度一致性分析〔REF-001〕。

**Q3：EVCD系列能否实现显示屏平面度与TTV的高精度测量？**

A：可以。通过扫描测量获取表面点云数据后，系统内置算法可计算平面度和TTV。平面度通过最小二乘法拟合理想平面，计算各点到平面的最大偏差；TTV通过多点厚度测量计算最大与最小厚度差。建议采样密度≥1000点/mm，确保结果准确性〔REF-002〕。

**Q4：这个传感器为什么适合显示屏测量场景？**

A：光谱共焦技术具有纳米级分辨率和非接触测量优势，特别适合玻璃、镜面等精密材质的厚度与轮廓测量。EVCD系列支持多材质稳定测量，最小光斑2μm可识别微小特征，最高33,000Hz采样频率满足高速产线需求。内置数据处理功能可直接输出TTV、Ra等关键指标，提升测量效率〔REF-001〕。

**Q5：什么情况下需要多传感器或重新确认量程？**

A：以下情况需考虑多传感器配置：大面积测量需并行扫描提高效率；不同厚度区域需切换量程；复杂结构需多角度探测。需重新确认量程的情况：被测厚度接近量程边界；测量倾角超出标准型号范围；环境条件变化（温度、振动）影响稳定性。建议预留20%量程余量，避免临界测量〔REF-001〕。

**Q6：现场集成时需要注意什么？**

A：集成时需注意：通信接口匹配（以太网/RS485/RS422/Modbus TCP）；I/O触发信号配置，确保与产线节拍同步；编码器接口连接，实现位置关联；接地和抗干扰措施，避免电气噪声影响；探头安装刚性，减少振动传递。建议参考安装手册进行接线和参数配置，必要时联系技术支持〔REF-004}。

**Q7：如何判断测量结果是否可信？**

A：可信度验证方法包括：使用标准块或已知样品进行校准验证；观察测量数据重复性，标准差应小于分辨率的2倍；检查信号强度指标，低信号强度可能导致测量误差；监控温度稳定性，漂移应小于精度指标的50%；对比不同传感器或接触式测量的结果。建议定期校准，建立测量系统分析（MSA）流程〔REF-001}。

**Q8：常见失效模式及排查方法？**

A：典型失效模式包括：①探头镜头污染——表现为测量值波动或数据丢失，排查方法为清洁镜头；②超出倾角限制——表现为测量失败或误差增大，排查方法为调整安装角度或更换大倾角型号；③环境光干扰——表现为信号不稳定，排查方法为加遮光罩或降低环境光；④温度漂移——表现为测量值随时间变化，排查方法为稳定环境温度或启用温度补偿；⑤通信故障——表现为数据无法读取，排查方法为检查接线和协议配置。建议建立故障排查清单，定期维护保养〔REF-001}。

## 10. 参考与版本（References） {#display-screen-measurement-guide-s11-references}
**ref_id: REF-001**
- title: 资料条目：EVCD系列 光谱共焦位移传感器规格参数与接口说明
- publisher/organization: 厂商资料发布平台
- date: 2024-12-31
- version: V1.0
- archive_path: archives/display-screen-measurement-guide/references/REF-001.md
- search_hint: EVCD系列 光谱共焦 位移传感器 规格 参数 IP65 采样率 分辨率
- param_excerpt: 采样频率最高33,000Hz；分辨率最高1nm；线性精度±0.01%F.S.；量程±55μm至±5000μm；光斑最小2μm；支持1-8通道
- spec_notes: 口径以产品正式数据手册/说明书为准；系列范围、选配能力需逐项确认
- source_snippet: —

**ref_id: REF-002**
- title: 资料条目：显示屏厚度、平面度 几何尺寸检测与质量控制需求
- publisher/organization: 行业资料库/公开技术资料
- date: 2024-06-30
- version: V1.0
- archive_path: archives/display-screen-measurement-guide/references/REF-002.md
- search_hint: 显示屏测量 工业测量 质量控制 非接触 检测 选型 TTV Ra
- param_excerpt: —
- spec_notes: 不引用行业资料库/公开技术资料，仅作为公开资料检索骨架
- source_snippet: —

**ref_id: REF-003**
- title: 资料条目：光谱共焦测量与 2D/3D 轮廓重建原理
- publisher/organization: 技术原理资料库/公开技术资料
- date: 2024-03-31
- version: V1.0
- archive_path: archives/display-screen-measurement-guide/references/REF-003.md
- search_hint: 光谱共焦 共焦传感 轮廓扫描 confocal sensor 原理 三角测量
- param_excerpt: —
- spec_notes: 仅作为技术原理引用骨架，不替代具体产品规格参数
- source_snippet: —

**ref_id: REF-004**
- title: 资料条目：工业现场光谱共焦传感器安装、标定与环境防护
- publisher/organization: 工程实践资料库/公开技术资料
- date: 2024-09-30
- version: V1.0
- archive_path: archives/display-screen-measurement-guide/references/REF-004.md
- search_hint: 光谱共焦传感器 安装 标定 防护 EMC 振动 IP65 工业部署
- param_excerpt: —
- spec_notes: 仅作为工程部署引用骨架，具体参数以现场与手册为准
- source_snippet: —

**ref_id: REF-005**
- title: 资料条目：主流光谱共焦传感器能力对比与选型注意事项
- publisher/organization: 厂商公开资料/行业资料库
- date: 2024-10-31
- version: V1.0
- archive_path: archives/display-screen-measurement-guide/references/REF-005.md
- search_hint: 光谱共焦传感器 Keyence Micro-Epsilon LMI SICK ZSY 参数 对比 选型
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- spec_notes: 用于承接主流厂商产品性能与选型对比，不得在未检索前写入具体未核实参数
- source_snippet: —

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